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    Reliability of a focused ion beam repair on digital CMOS circuits
    K. Van Doorselaer ; R.M. Van Camp ; et al.
    In: Proceedings of the 7th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 2005-08-29
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    The application of advanced techniques for complex focused-ion-beam device modification
    Hahn, L.L. ; Abramo, M.T.
    In: Proceedings of the 7th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 2005-08-29
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    New experimental findings on hot carrier effects in deep submicrometer surface channel PMOS
    Chong Gun Yu ; Jong Tae Park ; et al.
    In: Proceedings of the 7th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 2005-08-29
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -