Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
19 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Sprache

19 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Graphene for CMOS and Beyond CMOS Applications
    Register, Leonard F. ; MacDonald, Allan H. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 98 (2010-12-01), S. 2032-2046
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Leakage current mechanisms and leakage reduction techniques in deep-submicrometer CMOS circuits
    Mahmoodi-Meimand, H. ; Mukhopadhyay, Saibal ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 91 (2003-02-01), S. 305-327
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Extremely scaled silicon nano-CMOS devices
    Chang, Leland ; Hu, Chenming ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 9 (2003-11-01), S. 1860-1873
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Micromachined thermally based CMOS microsensors
    Baltes, Henry ; Paul, Oliver ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 86 (1998), S. 1660-1678
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    CMOS scaling into the nanometer regime
    George Anthony Sai-Halasz ; Buchanan, Douglas A. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 85 (1997-04-01), S. 486-504
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Silicon Photonics: CMOS Going Optical.
    Tsybeskov, Leonid ; Lockwood, David J. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 97 (2009-07-01), Heft 7, S. 1161-1165
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Multiterminal Memristive Nanowire Devices for Logic and Memory Applications: A Review
    Leblebici, Yusuf ; G. De Micheli ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 100 (2012-06-01), S. 2008-2020
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Evaluation of the Potential Performance of Graphene Nanoribbons as On-Chip Interconnects
    Naeemi, Azad ; Rakheja, Shaloo ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 101 (2013-07-01), S. 1740-1765
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Silicon Organic Hybrid Technology—A Platform for Practical Nonlinear Optics
    Frank, Brian ; Koos, Christian ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 97 (2009-07-01), S. 1304-1316
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    ULSI reliability through ultraclean processing
    Ohmi, Tadahiro
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 81 (1993-05-01), S. 716-729
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Special Issue on Silicon Germanium—Advanced Technology, Modeling, and Design
    Meyerson, Bernard S. ; Harame, David L. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 93 (2005-09-01), S. 1519-1521
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Evolution of the MOS transistor-from conception to VLSI
    Chih-Tang, Sah
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 76 (1988), S. 1280-1326
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    The design of radiation-hardened ICs for space: a compendium of approaches
    N. van Vonno ; Berndt, D.F. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 76 (1988), S. 1470-1509
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    High-Performance Quantum Dot Lasers and Integrated Optoelectronics on Si.
    Mi, Zetian ; Yang, Jun ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 97 (2009-07-01), Heft 7, S. 1239-1249
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Negative Index Materials With Gain Media for Fast Optical Modulation.
    Bratkovsky, Alexander M.
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 97 (2009-07-01), Heft 7, S. 1317-1328
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Silicon-Germanium Nanostructures for Light Emitters and On-Chip Optical Interconnects
    Lockwood, David J. ; Tsybeskov, Leonid
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 97 (2009-07-01), S. 1284-1303
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Emerging multigigahertz digital and mixed-signal integrated circuits targeted for military applications : Dependence on advanced electronic packaging to achieve full performance
    GILBERT, Barry K ; DEGERSTROM, Michael J ; et al.
    In: Interconnections-Addressing the Next Challenge of IC Technology. Part I: Integration and Packaging Trends, Jg. 89 (2001), Heft 4, S. 426-443
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Thin-film silicon: Preparation, properties, and device applications
    Allison, J.F. ; Heiman, F.P. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Jg. 57 (1969), S. 1490-1498
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -