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    Mitigating Memory Wall Effects in High-Clock-Rate and Multicore CMOS 3-D Processor Memory Stacks
    Jacob, P. ; Zia, A. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 97 (2009), Heft 1, S. 108-122
    Online academicJournal
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    Limitations and challenges of computer-aided design technology for CMOS VLSI
    Bryant, R.E. ; Cheng, Kwang-Ting ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 89 (2001-03-01), Heft 3, S. 341-365
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    CMOS scaling for high performance and low power-the next ten years
    Davari, B. ; Dennard, R.H. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 83 (1995-04-01), Heft 4, S. 595-606
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Design and performance of "1.25-µm" CMOS for digital applications
    Lewis, E.T.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 73 (1985-03-01), Heft 3, S. 419-432
    Online academicJournal
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    Volltext
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    State of the art in the analog CMOS circuit design
    Habekotte, E. ; Hoefflinger, B. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 75 (1987-06-01), Heft 6, S. 816-828
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Trends in advanced process technology—Submicrometer CMOS device design and process requirements
    Brown, D.M. ; Ghezzo, M. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 74 (1986-12-01), Heft 12, S. 1678-1702
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Power and Energy Perspectives of Nonvolatile Memory Technologies
    Derhacobian, N. ; Hollmer, S. C. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 98 (2010-02-01), Heft 2, S. 283-298
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Thermal Modeling, Analysis, and Management in VLSI Circuits: Principles and Methods
    Pedram, M. ; Nazarian, S.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 94 (2006-08-01), Heft 8, S. 1487-1501
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Microsensor Integration Into Systems-on-Chip
    Brand, O.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 94 (2006-06-01), Heft 6, S. 1160-1176
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Technology challenges for integration near and below 0.1 /spl mu/m
    Asai, S. ; Wada, Y.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 85 (1997-04-01), Heft 4, S. 505-520
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Performance trends in high-end processors
    Sai-Halasz, G.A.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 83 (1995), Heft 1, S. 20-36
    Online academicJournal
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    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    The HIMOS flash technology: the alternative solution for low-cost embedded memory
    Van Houdt, J. ; Wellekens, D. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 91 (2003-04-01), Heft 4, S. 627-635
    Online academicJournal
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    State of the Art in 60-GHz Integrated Circuits and Systems for Wireless Communications
    Rappaport, T. S. ; Murdock, J. N. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 99 (2011-08-01), Heft 8, S. 1390-1436
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Defect-oriented testability for asynchronous ICs
    Roncken, M.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 87 (1999-02-01), Heft 2, S. 363-375
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    SoC Issues for RF Smart Dust
    Cook, B.W. ; Lanzisera, S. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 94 (2006-06-01), Heft 6, S. 1177-1196
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    On the Potential of SiGe HBTs for Extreme Environment Electronics
    Cressler, J.D.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 93 (2005-09-01), Heft 9, S. 1559-1582
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    ESD: a pervasive reliability concern for IC technologies
    Duvvury, C. ; Amerasekera, A.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 81 (1993-05-01), Heft 5, S. 690-702
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Limits of integrated-circuit manufacturing
    Doering, R. ; Nishi, Y.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 89 (2001-03-01), Heft 3, S. 375-393
    Online academicJournal
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    Advances in bipolar VLSI
    Wilson, G.R.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 78 (1990-11-01), Heft 11, S. 1707-1719
    Online academicJournal
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    A Future of Integrated Electronics: Moving Off the Roadmap
    Radack, D. J. ; Zolper, J. C.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 96 (2008-02-01), Heft 2, S. 198-200
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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