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    Computers in everything: from the pushbutton factory to the Y2K bug
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 87 (1999-12-01), Heft 12, S. 2143-2145
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Software Vulnerability Detection Using Deep Neural Networks: A Survey
    Lin, G. ; Wen, S. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 108 (2020-10-01), Heft 10, S. 1825-1848
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Computer-encouraged serendipity in pure mathematics
    Strauss, C.M.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 62 (1974-04-01), Heft 4, S. 493-495
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Reliability of Solid-State Drives Based on NAND Flash Memory
    Mielke, N.R. ; Frickey, R.E. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 105 (2017-09-01), Heft 9, S. 1725-1750
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Cyber–Physical Modeling of Implantable Cardiac Medical Devices
    Jiang, Z. ; Pajic, M. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 100 (2012), Heft 1, S. 122-137
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    An Integrated CAD Methodology for Evaluating MOSFET and Parasitic Extraction Models and Variability
    Das, K. K. ; Walker, S. G. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 95 (2007-03-01), Heft 3, S. 670-687
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Upgrading real-time control software in the field
    Sha, L.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 91 (2003-07-01), Heft 7, S. 1131-1140
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
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lg 992 - 1200
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