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    The speech scale, the Mel scale, and the tube model for speech [4791-02] : Advanced signal processing algorithms, architectures, and implementations
    Umesh, S. ; Cohen, L. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4791 (2002), S. 7-23
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    The speech scale, the Mel scale, and the tube model for speech [4791-02] : Advanced Signal Processing Algorithms, Architectures, and Implementations XII
    Umesh, S. ; Cohen, L. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2002, Heft 4791, S. 7-23
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Mel-cepstrum based steganalysis for VolP steganography [6505-04] : Security, steganography, and watermarking of multimedia contents IX
    Kraetzer, C. ; Dittmann, J.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6505 (2007), S. 650505-650505
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Mel-cepstrum based steganalysis for VolP steganography [6505-04] : Security, Steganography, and Watermarking of Multimedia Contents IX
    Kraetzer, C. ; Dittmann, J.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6505 (2007), S. 650505-650505
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Laser control technique of coverings quality and thermophysical properties of laminated and inhomogeneous materials [5851-46] : Fundamental problems of optoelectronics and microelectronics
    Uimin, A. A. ; Starostin, A. A. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5851 (2005), S. 251-258
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Waveguide nonlinear optics scaled to higher peak powers with large-core-area hollow photonic-crystal fibers [5850-11] : Advanced laser technologies; ALT’04
    Konorov, S. O. ; Fedotov, A. B. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5850 (2005), S. 75-81
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Efficient nonlinear optical conversion in porous GaP: the effect of light localization [5360-51] : Photonic crystal materials and devices; Photonic crystal materials and devices II
    Golovan , L. A. ; Petrov, G. I. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5360 (2004), S. 333-338
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Toward a cryogenic imaging array of transition edge x-ray microcalorimeters [4012-15] : X-ray optics, instruments, and missions
    Bruijn, M. P. ; Tiest, W. B. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4012 (2000), S. 145-153
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Vertically integrated photonic multichip module architecture for vision applications [4089-72] : Optics in computing
    Tanguay, A. R. ; Jenkins, B. K. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2000, S. 584-601
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Laser control technique of coverings quality and thermophysical properties of laminated and inhomogeneous materials [5851-46] : Fundamental Problems of Optoelectronics and Microelectronics II
    Uimin, A. A. ; Starostin, A. A. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5851 (2005), S. 251-258
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Waveguide nonlinear optics scaled to higher peak powers with large-core-area hollow photonic-crystal fibers [5850-11] : Advanced Laser Technologies 2004
    Konorov, S. O. ; Fedotov, A. B. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5850 (2005), S. 75-81
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Calculation of absorption spectra by 3D-group impurity ions in PbI~2 [4607-50] : Correlation optics
    Mel nychuk, S. V. ; Kramar, A. V. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4607 (2002), S. 353-355
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Efficient nonlinear optical conversion in porous GaP: the effect of light localization [5360-51] : Photonic Crystal Materials and Devices II
    Golovan , L. A. ; Petrov, G. I. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2004, Heft 5360, S. 333-338
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Toward a cryogenic imaging array of transition edge x-ray microcalorimeters [4012-15]
    Bruijn, M. P. ; Tiest, W. B. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2000, Heft 4012, S. 145-153
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    X-ray evolving universe spectroscopy mission (XEUS): narrow-field imaging high-resolution spectrometer: II (1 to 10 keV)[3766-12] : X-Ray Optics, Instruments, and Missions II
    De Korte, P. A. J. ; Hoevers, H. F. C. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3766, S. 152-161
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Performance of hot-electron bolometers for infrared and X-ray detection [3445-26] : EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Instrumentation for Astronomy IX
    Mels, W. A. ; Bruijn, M. P. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1998, Heft E 3445, S. 255-267
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Performance of the large-area position-sensitive x-ray detector of the SAX wide-field camera [2517-18] : X-Ray and EUV/FUV Spectroscopy and Polarimetry
    Mels, W. A. ; Buurmans, H. B. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1995, Heft E 2517, S. 269-280
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Wide field coded mask x-ray cameras for SAX [2517-17] : X-Ray and EUV/FUV Spectroscopy and Polarimetry
    Jager, R. ; Heise, J. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1995, Heft E 2517, S. 261-268
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Calculation of absorption spectra by 3D-group impurity ions in Pbl~2 [4607-50] : Selected Papers from. Fifth International Conference on Correlation Optics
    Mel nychuk, S. V. ; Kramar, A. V. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2001, Heft 4607, S. 353-355
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Performance of hot-electron bolometers for infrared and x-ray detection [3445-26] : EUV, X-ray, and gamma-ray instrumentation for astronomy
    Mels, W. A. ; Bruijn, M. P. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, , Heft E 3445, S. 255-267
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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