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    Portable simultaneous XRF/XRD device for an in-line phase monitoring of ferroelectric's production [5943-42] : X-ray and neutron capillary optics
    Ibraimov, N. S. ; Likhoushina, E. V. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5943 (2005), S. 305-308
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    An in situ XRF system for composition mapping of thin film IR sensors [5726-02] : Semiconductor photodetectors II
    Formica, S. P. ; Lee, S. M.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5726 (2005), S. 1-9
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Vortex: a new high-performance silicon multicathode detector for XRD and XRF applications [5198-16] : Hard X-ray and gamma-ray detector physics; Hard X-ray and gamma-ray detector physics V
    Feng, L. ; Iwanczyk, J. S. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5198 (2004), S. 103-110
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Tandem transmission/reflection mode XRD instrument including XRF for in-situ measurement of Martian rocks and soils [4859-11] : Instruments, methods, and missions for astrobiology
    Delhez, R. ; van der Gaast, S. J. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4959 (2003), S. 87-92
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Using a charge-coupled device (CCD) to simultaneously gather x-ray fluorescence (XRF) and x-ray diffraction (XRD) information [4497-24] : X-ray and gamma-ray instrumentation for astronomy
    Cornaby, S. ; Grow, T. D. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 4497 (2002), S. 166-172
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Recent development of doubly curved crystal focusing optics and their applications for micro XRF [3767-19] : EUV, X-ray, and neutron optics and sources
    Chen, Z. W.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 3767 (1999), S. 114-120
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Portable simultaneous XRF/XRD device for an in-line phase monitoring of ferroelectric's production [5943-42] : X-Ray and Neutron Capillary Optics II
    Ibraimov, N. S. ; Likhoushina, E. V. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5943 (2005), S. 305-308
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    An in situ XRF system for composition mapping of thin film IR sensors [5726-02] : Semiconductor Photodetectors II
    Formica, S. P. ; Lee, S. M.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5726 (2005), S. 1-9
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Vortex: a new high-performance silicon multicathode detector for XRD and XRF applications [5198-16] : Hard X-Ray and Gamma-Ray Detector Physics V
    Feng, L. ; Iwanczyk, J. S. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2003, Heft 5198, S. 103-110
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Tandem transmission/reflection mode XRD instrument including XRF for in-situ measurement of Martian rocks and soils [4859-11] : Instruments, Methods, and Missions for Astrobiology V
    Delhez, R. ; van der Gaast, S. J. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2003, Heft 4859, S. 87-92
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Using a charge-coupled device (CCD) to simultaneously gather x-ray fluorescence (XRF) and x-ray diffraction (XRD) information [4497-24] : X-Ray and Gamma-Ray Instrumentation for Astronomy XII
    Cornaby, S. ; Grow, T. D. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2001, Heft 4497, S. 166-172
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Recent development of doubly curved crystal focusing optics and their applications for micro XRF [3767-19]
    Chen, Z. W.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft 3767, S. 114-120
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Process monitoring and control with CHEMIN, a miniaturized CCD-based instrument for simultaneous XRD/XRF analysis [3769-30] : Penetrating Radiation Systems and Applications
    Vaniman, D. T. ; Bish, D. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1999, Heft E 3769, S. 243-251
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Polycapillary conic collimator for micro-XRF [3444-36] : X-Ray Optics, Instruments, and Missions
    Bzhaumikhov, A. A. ; Langhoff, N. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 1998, Heft E 3444, S. 430-435
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Process monitoring and control with CHEMIN, a miniaturized CCD-based instrument for simultaneous XRD/XRF analysis [3769-30] : Penetrating radiation systems and applications
    Vaniman, D. T. ; Bish, D. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, , Heft E 3769, S. 243-251
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Polycapillary conic collimator for micro-XRF [3444-36] : X-ray optics, instruments, and missions
    Bzhaumikhov, A. A. ; Langhoff, N. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, , Heft E 3444, S. 430-435
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Simultaneous fast scanning XRF, dark field, phase-, and absorption contrast tomography [8851-24] : X-ray nanoimaging: instruments and methods
    Medjoubi, K. ; Bonissent, A. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8851 (2013), S. 8851 0P
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Development of a laboratory-based XRF facility for measuring elemental abundance ratios in planetary analogue powder samples [8453-45] : High energy, optical, and infrared detectors for astronomy; High energy, optical, and infrared detectors for astronomy V: 1-4 July 2012, Amsterdam, Netherlands
    Walker, T.E. ; Smith, D.R.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8453 (2012), Heft 1, S. 8453 19
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Investigation of gunshot residue patterns using milli-XRF-techniques: first experiences in casework [7729-37] : Scanning microscopy
    Schumacher, R. ; Barth, M. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2010, Heft 7729, S. 7729 17
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Complementing and adding to SEM performance with the addition of XRF, Raman, CL and PL spectroscopy and imaging [7729-67] : Scanning microscopy
    Leroy, E. ; Mamedov, S. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2010, Heft 7729, S. 7729 0R
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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