Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
18 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

18 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Proceedings 2005 IEEE International Workshop on Current & Defect Based Testing (DBT 2005) - front matter
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 10
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Electrical analysis of a domino logic cell with GOS faults
    Renovell, M. ; Comte, M. ; et al.
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 34-41
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Technology scaling issues of an iddq built-in current sensor
    Xue, Bin ; Walker, D.M.H.
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 10-15
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Sensitivity analysis of quiescent signal analysis for defect detection
    Acharyya, D. ; Singh, A. ; et al.
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 3-10
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Electrical and topological characterization of interconnect open defects
    Rodriguez-Montanes, R. ; Figueras, J.
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 42-46
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    On the test quality evaluation of current testing techniques
    Thibeault, C.
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 16-22
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Data size reduction for clustering-based binning of ICs using principal component analysis (PCA)
    Banthia, A.S. ; Jayasumana, A.P. ; et al.
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 24-30
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Evaluation of I/sub DDT? testing for CMOS domino circuits
    Nazer, A. ; Chehab, A. ; et al.
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 58-63
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Structural test with functional characteristics
    Maamaril, F. ; Cote, J. F. ; et al.
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 45-48
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    An introduction to computer algorithms designed to facilitate I/sub DDT/ current testing of CMOS circuits
    Thomas, S.
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 71-76
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Current testing for nanotechnologies: a demystifying application perspective
    Manhaeve, H.
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 49-56
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Simulation modeling and testing of SRAMs using dynamic current
    Kumar, S. ; Thomas, S. ; et al.
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 64-70
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    IEEE Computer Society
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 79-81
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    [Breaker page]
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 77-78
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    [Breaker page]
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 1-1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    [Breaker page]
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 23-23
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    [Breaker page]
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 44-44
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    [Breaker page]
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005. DBT, 2005, S. 57-57
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -