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    Advanced CMOS transistors in the nanotechnology era for high-performance, low-power logic applications
    Jack Portland Kavalieros ; Jin, B. ; et al.
    In: Proceedings. 7th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology,, 2005-06-07
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Impact of metal gate work function on nano CMOS device performance
    Samudra, G. ; Kwong, Dim-Lee ; et al.
    In: Proceedings. 7th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology,, 2005-06-07
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    A fully CMOS compatible integrated absolute pressure sensor
    Zhou, Min-Xin ; Huang, Qing-An ; et al.
    In: Proceedings. 7th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology,, 2005-06-07
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Characteristics of sub-1 um CVD HfO/sub 2/ gate dielectrics with HfN electrodes for advanced CMOS applications
    Ren, C. ; Han, R.Q. ; et al.
    In: Proceedings. 7th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology,, 2005-06-07
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    CMOS transistor design challenges for mobile and digital consumer applications
    Wu, J.
    In: Proceedings. 7th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology,, 2005-06-07
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Study on 0.1 micron grooved-gate CMOS
    Ren, Hong-Xia ; Zhang, Xiao-Ju ; et al.
    In: Proceedings. 7th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology,, 2005-06-07
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    CMOS RF IC design challenges
    Zhang, Pengfei
    In: Proceedings. 7th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology,, 2005-06-07
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Compacted simulation: a new leakage current estimation method
    Chen, Jinghua ; Xu, Yongjun ; et al.
    In: Proceedings. 7th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology,, 2005-06-07
    Online unknown
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Challenges and key potential technological innovations for scaling MOSFETs through the end of the roadmap
    Zeitzoff, P.M.
    In: Proceedings. 7th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology,, 2005-06-07
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A high sensitivity capacitive fingerprint sensor with double sensing plates
    Jun, Ye ; Wang, Xinan ; et al.
    In: Proceedings. 7th International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology,, 2005-06-07
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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