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    Statistical Modelling of MOS Transistor Mismatch for High-voltage CMOS Processes
    Rappitsch, Gerhard ; Enichlmair, Hubert ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 21 (2005), S. 477-489
    Online unknown
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    A method for the calculation of the softerror rate of sub-μm dynamic logic cmos circuits
    Klar, H. ; Juhnke, T. ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 11 (1995), S. 263-268
    Online unknown
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    Evaluation of the hot-carrier-induced offset voltage of differential pairs in analogue CMOS circuits
    Weber, Werner ; Thewes, Roland ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 11 (1995), S. 273-277
    Online unknown
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    DESIGN BASED FAILURE ANALYSIS AND YIELD IMPROVEMENT IN CMOS-CIRCUITS
    Keitel-Schulz, Doris ; Schmitt-Landsiedel, D. ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 12 (1996-07-01), S. 221-227
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    Localization and characterization of latch-up sensitive areas using a laser beam: Influence on design rules of ICs in CMOS technology
    Danto, Yves ; Fouillat, Pascal ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 9 (1993-11-01), S. 477-482
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    Testability enhancement of a basic set of CMOS cells
    Rullan, M. ; Oliver, J. ; et al.
    In: Quality and reliability engineering international, Jg. 10 (1994), Heft 4, S. 279-288
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    A two-step methodology for CMOS VLSI reliability improvement: Step one
    Postoyalko, V. ; Davies, M. S. ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 4 (1988-10-01), S. 317-329
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    Reliability characterization of a 3-mum cmos/sos process
    M. Patrick Dugan
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 3 (1987-04-01), S. 99-105
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    RELIABILITY CHALLENGES FOR LOW VOLTAGE/LOW POWER INTEGRATED CIRCUITS
    Johnson, G.H. ; Galloway, Kenneth F. ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 12 (1996-07-01), S. 271-279
    Online unknown
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    On the use of DC measurements for ESD-related process monitoring
    Luchies, J.R.M. ; Luchies, Jan Marc ; et al.
    In: Quality and reliability engineering international, Jg. 9 (1993), Heft 4, S. 309-313
    Online unknown
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    Observation of submicronic contacts and vias by scanning ion and electron microscopy
    Lafond, D. ; Pantel, R. ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 10 (1994), S. 319-324
    Online unknown
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    A comparison of deterministic and statistical sampling techniques for quality analysis of integrated circuits
    Ilumoka, A. A.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 9 (1993-11-01), S. 489-499
    Online unknown
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