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    Statistical Modelling of MOS Transistor Mismatch for High-voltage CMOS Processes
    Rappitsch, Gerhard ; Enichlmair, Hubert ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 21 (2005), S. 477-489
    Online unknown
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    A method for the calculation of the softerror rate of sub-μm dynamic logic cmos circuits
    Klar, H. ; Juhnke, T. ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 11 (1995), S. 263-268
    Online unknown
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    Evaluation of the hot-carrier-induced offset voltage of differential pairs in analogue CMOS circuits
    Weber, Werner ; Thewes, Roland ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 11 (1995), S. 273-277
    Online unknown
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    Localization and characterization of latch-up sensitive areas using a laser beam: Influence on design rules of ICs in CMOS technology
    Danto, Yves ; Fouillat, Pascal ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 9 (1993-11-01), S. 477-482
    Online unknown
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    A two-step methodology for CMOS VLSI reliability improvement: Step one
    Postoyalko, V. ; Davies, M. S. ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 4 (1988-10-01), S. 317-329
    Online unknown
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    Reliability characterization of a 3-mum cmos/sos process
    M. Patrick Dugan
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 3 (1987-04-01), S. 99-105
    Online unknown
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    Observation of submicronic contacts and vias by scanning ion and electron microscopy
    Lafond, D. ; Pantel, R. ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 10 (1994), S. 319-324
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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