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In: Reliability of electron devices, failure physics and analysis, Jg. 44 (2004), Heft 9-11, S. 1519-1522KonferenzZugriff:
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In: Reliability of electron devices, failure physics and analysis, Jg. 44 (2004), Heft 9-11, S. 1817-1822KonferenzZugriff: