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    Introduction
    In: Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; (2010-01-19)
    Buch
    Wie komme ich dran?
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    Dielectric Characterization and Reliability Methodology
    In: Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; (2010-01-19)
    Buch
    Wie komme ich dran?
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    Negative Bias Temperature Instabilities in pMOSFET Devices
    In: Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; (2010-01-19)
    Buch
    Wie komme ich dran?
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    StressInduced Voiding
    In: Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; (2010-01-19)
    Buch
    Wie komme ich dran?
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    Dielectric Breakdown of Gate Oxides: Physics and Experiments
    In: Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; (2010-01-19)
    Buch
    Wie komme ich dran?
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    Frontmatter
    In: Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; (2010-01-19)
    Buch
    Wie komme ich dran?
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    Hot Carriers
    In: Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; (2010-01-19)
    Buch
    Wie komme ich dran?
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    Electromigration
    In: Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; (2010-01-19)
    Buch
    Wie komme ich dran?
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    Stress-Induced Voiding.
    Tewksbury, Stuart K. ; Brewer, Joe E. ; et al.
    In: Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; (2009) S. 517-564
    Buch
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Index.
    Tewksbury, Stuart K. ; Brewer, Joe E. ; et al.
    In: Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; (2009) S. 619-624
    Buch
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Hot Carriers.
    Tewksbury, Stuart K. ; Brewer, Joe E. ; et al.
    In: Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; (2009) S. 441-516
    Buch
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Electromigration.
    Tewksbury, Stuart K. ; Brewer, Joe E. ; et al.
    In: Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; (2009) S. 565-618
    Buch
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Dielectric Breakdown of Gate Oxides: Physics and Experiments.
    Tewksbury, Stuart K. ; Brewer, Joe E. ; et al.
    In: Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; (2009) S. 209-329
    Buch
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Frontmatter.
    Tewksbury, Stuart K. ; Brewer, Joe E. ; et al.
    In: Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; (2009) S. i- (14S.)
    Buch
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Negative Bias Temperature Instabilities in pMOSFET Devices.
    Tewksbury, Stuart K. ; Brewer, Joe E. ; et al.
    In: Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; (2009) S. 331-439
    Buch
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Dielectric Characterization and Reliability Methodology.
    Tewksbury, Stuart K. ; Brewer, Joe E. ; et al.
    In: Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; (2009) S. 71-208
    Buch
    Wie komme ich dran?
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    Buch
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