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    Laboratory test of a LSM-based narrow bandpass and high throughput camera for Tokamak plasma imaging between 100 and 200 Å.
    Huang, L. K. ; Regan, S. P. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 63 (1992-10-01), Heft 10, S. 5171-5173
    Online academicJournal
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    A microscope for imaging, spectroscopy, and lithography at the nanometer scale: Combination of a two-photon laser scanning microscope and an atomic force microscope.
    Schrey, F. F. ; Chaban, E. E. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 74 (2003-03-01), Heft 3, S. 1211-1216
    Online academicJournal
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    Volltext (PDF)
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    Electric field measurement using a hybrid optical instrument.
    Sung, Youl-Moon ; Kuroki, Ryusuke ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 74 (2003-02-01), Heft 2, S. 1093-1097
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Polarization modulation laser scanning microscopy: a powerful tool to image molecular orientation and order.
    Gupta, Vinay K. ; Kornfield, Julia A.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 65 (1994-09-01), S. 2823-2828
    Online academicJournal
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    Proceedings of the Fifth Topical Conference on High Temperature Plasma Diagnostics, Tahoe City, Calif., Sept. 16-20, 1984.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 56 (1985-05-01), Heft 2, S. 791-1133
    Online academicJournal
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    Layered synthetic microstructures for soft x-ray spectroscopy of magnetically confined plasmas (invited).
    Moos, W. ; Zwicker, A. P. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 61 (1990-10-01), Heft 10, S. 2733-2737
    Online academicJournal
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    Thickness and density determination of ultrathin solid films comprising multilayer x-ray mirrors by x-ray reflection and fluorescence study.
    Zheludeva, S. I. ; Kovalchuk, M. V. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 63 (1992), Heft 1, S. 1519-1522
    Online academicJournal
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    Structural studies of electrochemical interfaces with x rays.
    Abruña, H. D. ; White, J. H. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 60 (1989-07-01), Heft 7, S. 2529-2532
    Online academicJournal
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    Narrow bandpass layered synthetic microstructure-based pinhole camera to image a tokamak plasma in H-like carbon emission at 34 Å.
    Regan, S. P. ; Huang, L. K. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 63 (1992-10-01), Heft 10, S. 5174-5175
    Online academicJournal
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    On the development of a confocal Rayleigh-Brillouin microscope.
    Liptak, David C. ; Reber, Jason C. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 78 (2007), Heft 1, S. 016106-16106
    Online academicJournal
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    ITER x-ray diagnostic studies.
    Hill, K. W. ; Young, K. M. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 63 (1992-10-01), Heft 10, S. 5032-5034
    Online academicJournal
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    A feasibility study of an XUV spectroscopic measurement of electron density and temperature fluctuations in tokamak plasma center (abstract).
    Huang, L. K. ; Finkenthal, M. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 61 (1990-10-01), Heft 10, S. 3072-3072
    Online academicJournal
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