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    academicJournal
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    Analyzer-based phase-contrast imaging system using a micro focus x-ray source.
    Zhou, Wei ; Majidi, Keivan ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 85 (2014-08-01), Heft 8, S. 1-8
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Novel analysis technique for measuring edge density fluctuation profiles with reflectometry in the Large Helical Device.
    Creely, A. J. ; Ida, K. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 88 (2017-07-01), Heft 7, S. 73509-1- (7S.)
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Integrated analysis and consistency measurement of bremsstrahlung and charge exchange spectroscopy data for the determination of the ion effective charge.
    Verdoolaege, G. ; Fischer, R. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 81 (2010-10-01), Heft 10, S. 10D703- (3S.)
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Solid-density plasma characterization with x-ray scattering on the 200 J Janus laser.
    Neumayer, P. ; Gregori, G. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 77 (2006-10-01), Heft 10, S. 10F317- (3S.)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Analyzer-based phase-contrast imaging system using a micro focus x-ray source
    Brankov, Jovan G. ; Zhou, Wei ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 85 (2014-08-01), S. 085114-85114
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Solid-density plasma characterization with x-ray scattering on the 200J Janus laser
    Gregori, Gianluca ; Landen, Otto ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 77 (2006-10-01), S. 10F317
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Development of a compact 2.45 GHz ECR ion source
    Winter, Hannspeter ; Fiedler, S.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 63 (1992-04-01), S. 2532-2534
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    academicJournal
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Analyzer-based phase-contrast imaging system using a micro focus X-ray source.
    Zhou, W ; Majidi, K ; et al.
    In: The Review of scientific instruments, Jg. 85 (2014-08-01), Heft 8, S. 085114
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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