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    Ion temperature measurements on TMX-U using a gridless electrostatic analyzer
    FALABELLA, S ; MOLVIK, A. W
    In: Review of scientific instruments, Jg. 61 (1990), Heft 7, S. 1892-1899
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Plasma potential formation and measurement in TMX-U and MFTF-B (invited).
    Grubb, D. P.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 56 (1985-05-01), Heft 5, S. 947-952
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Database tools for enhanced analysis of TMX-U data.
    Stewart, M. E. ; Carter, M. R. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), Heft 8, S. 1929-1931
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Optically thin perpendicular electron-cyclotron emission from hot electrons in TMX-U.
    James, Reed A. ; Lasnier, C. J. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), Heft 8, S. 1968-1970
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    TMX-U computer system in evolution.
    Casper, T. A. ; Bell, H. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), Heft 8, S. 1880-1882
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Improved system for perpendicular electron-cyclotron emission measurements on TMX-U.
    Lasnier, C. J. ; Ellis, R. F. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), Heft 8, S. 1971-1973
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Diagnostic system for measurement of particle balance in TMX-U.
    Allen, S. L. ; Correll, D. L. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), Heft 8, S. 2072-2074
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Plasma measurements with the TMX-U E||B end-loss-ion spectrometers.
    Foote, J. H. ; Wood, B. E. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), Heft 8, S. 1786-1788
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Time-integrated x-ray measurements of the very energetic electron end loss profile in TMX-U.
    Osher, J. E. ; Fabyan, J.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 56 (1985-05-01), Heft 5, S. 824-826
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Perpendicular electron cyclotron emission from hot electrons in TMX-U.
    James, R. A. ; Ellis, R. F. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 56 (1985-05-01), Heft 5, S. 934-936
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Ion temperature measurements on TMX‐U using a gridless electrostatic analyzer
    Falabella, S. ; Molvik, A. W.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 61 (1990-07-01), S. 1892-1899
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Plasma potential formation and measurement in TMX‐U and MFTF‐B (invited)
    Grubb, D. P.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 56 (1985-05-01), S. 947-952
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Database tools for enhanced analysis of TMX‐U data
    Whitney, D. M. ; Perkins, D. E. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), S. 1929-1931
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Optically thin perpendicular electron‐cyclotron emission from hot electrons in TMX‐U
    Ellis, Richard ; Lasnier, C.J. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), S. 1968-1970
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Perpendicular electron cyclotron emission from hot electrons in TMX‐U
    Casper, T. A. ; Lasnier, C.J. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 56 (1985-05-01), S. 934-936
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    TMX‐U computer system in evolution
    Casper, T. A. ; Meyer, W.H. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), S. 1880-1882
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Diagnostic system for measurement of particle balance in TMX‐U
    Correll, D. L. ; Hill, D. N. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), S. 2072-2074
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Plasma measurements with the TMX‐U E∥B end‐loss‐ion spectrometers
    Brown, M. D. ; Wood, B. E. ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 57 (1986-08-01), S. 1786-1788
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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