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    Effect of Submicron Structural Parameters on the Performance of a Multi-Diode CMOS Compatible Silicon Avalanche Photodetector
    Majumder, K. ; Rakshit, P. ; et al.
    In: Semiconductors, Jg. 54 (2020-09-01), Heft 9, S. 1032-1038
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    Effect of Total Ionizing Dose Damage on 8-Transistor CMOS Star Sensor Performance
    Feng, J. ; Li, Y. D. ; et al.
    In: Semiconductors, Jg. 55 (2021), Heft 1, S. 108-115
    Online academicJournal
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    Vacuum Nanoelectronics Based on Semiconductor Field-Emission Structures: Current State and Development Prospects. Review
    Dyuzhev, N. A. ; Evsikov, I. D.
    In: Semiconductors, Jg. 57 (2023), Heft 1, S. 65-80
    Online academicJournal
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    Investigation of DC and RF Performance of Novel MOSHEMT on Silicon Substrate for Future Submillimetre Wave Applications
    Ajayan, J. ; Ravichandran, T. ; et al.
    In: Semiconductors, Jg. 52 (2018-12-01), Heft 16, S. 1991-1997
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    Spin Valves in Microelectronics (A Review)
    Iusipova, Iu. A. ; Popov, A. I.
    In: Semiconductors, Jg. 55 (2021-12-01), Heft 13, S. 1008-1020
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    Using Combined Optical Techniques to Control the Shallow Etching Process
    Volokhovskiy, A. D. ; Gerasimenko, N. N. ; et al.
    In: Semiconductors, Jg. 52 (2018-12-01), Heft 15, S. 1958-1962
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    Fabrication and DC/AC Characterization of 3-Terminal Ferromagnet/Silicon Spintronics Devices
    Tarasov, A. S. ; Lukyanenko, A. V. ; et al.
    In: Semiconductors, Jg. 52 (2018-12-01), Heft 14, S. 1875-1878
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    Experimental Observation of Dyakonov Plasmons in the Mid-Infrared
    Takayama, O. ; Dmitriev, P. ; et al.
    In: Semiconductors, Jg. 52 (2018-04-01), Heft 4, S. 442-446
    Online academicJournal
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