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    A sum-over-paths impulse-response moment-extraction algorithm for RLCM IC-interconnect networks
    LE COZ, Y. L ; KRISHNA, D ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 51 (2007), Heft 8, S. 1109-1123
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A sum-over-paths impulse-response moment-extraction algorithm for RLC IC-interconnect networks
    LE COZ, Y. L ; KRISHNA, D ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 49 (2005), Heft 10, S. 1604-1616
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A sum-over-paths impulse-response moment-extraction algorithm for RC IC-interconnect networks
    LE COZ, Y. L ; KRISHNA, D ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 48 (2004), Heft 12, S. 2133-2145
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Performance of random-walk capacitance extractors for IC interconnects: a numerical study.
    Le Coz, Y. L. ; Greub, H. J. ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 42 (1998-04-01), Heft 4, S. 581-588
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Ehrenfest derivation of forces acting within semiconductors of inhomogeneous material composition
    LE COZ, Y. L ; TIERSTEN, H. F
    In: Solid-state electronics, Jg. 35 (1992), Heft 5, S. 695-698
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A stochastic algorithm for high speed capacitance extraction in integrated circuits
    LE COZ, Y. L ; IVERSON, R. B
    In: Solid-state electronics, Jg. 35 (1992), Heft 7, S. 1005-1012
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    An analytical model for a.c. transport in double-barrier heterojunction diodes
    LE COZ, Y. L ; LIU, H. C
    In: Solid-state electronics, Jg. 33 (1990), Heft 4, S. 401-405
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Comments on “Ehrenfest derivation of the mean forces acting in materials with nonuniform band structure: a canonical approach”.
    Le Coz, Y. L. ; Tiersten, H. F.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 39 (1996-05-01), S. 767-768
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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