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    In situ SEM/STM observations and growth control of monolayer graphene on SiC (0001) wide terraces
    Saito, Yahachi ; Wang, Chenxing ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 48 (2016-07-29), S. 1221-1225
    Online unknown
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    First-principles study on STM current images of C2H2-adsorbed Si(001) surface
    Ono, Tomoya ; Hirose, Kikuji ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 40 (2008), S. 1063-1066
    Online unknown
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    Effects of intermolecular interactions on the controlled assembly of organic monolayers: an STM study
    Yang, Yanlian ; Wang, Chen ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 38 (2006-06-01), S. 1039-1046
    Online unknown
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    Surface structures of Ni2P (0001)—scanning tunneling microscopy (STM) and low-energy electron diffraction (LEED) characterizations
    Suzuki, Shushi ; Otani, Shigeki ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 38 (2006), S. 1611-1614
    Online unknown
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    Combined STM, HREELS andab initiostudy of the adsorption of uracil on Si(100)-2 × 1
    Chen, Qiao ; Lopez, Alberto ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 33 (2002-04-30), S. 441-446
    Online unknown
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    STM and XRD studies of the adsorption and assembling structures of phthalocyanine and porphyrin
    Wang, Can ; Wan, Li-Jun ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 34 (2002), S. 767-771
    Online unknown
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    Nanoscale surface characterization of conducting and non-conducting materials with STM and contact SFM: some problems and solutions
    Zhdan, Peter A.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 33 (2002), S. 879-893
    Online unknown
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Adsorption of substituted pyrrolidone molecules on Au(111): an STM and XPS study
    Cousty, J. ; Xie, Zhaoxiong ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 30 (2000), S. 283-287
    Online unknown
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    In situ STM studies on underpotential deposition of Sn on Au(100)
    Wu, J. M. ; Tang, J. ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 32 (2001), S. 49-52
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Manipulation of large molecules by low temperature STM
    Rieder, Karl-Heinz ; Moresco, Francesca ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 36 (2004-02-01), S. 109-113
    Online unknown
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Platinum particles supported on carbon: potential and limitations of characterization by STM
    Atamny, F. ; Baiker, A.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 27 (1999-05-01), S. 512-516
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Quantitative investigation of the O2+-induced topography of GaAs and other III-V semiconductors: An STM study of the ripple formation and suppression of the secondary ion yield change by sample rotation
    Karen, A. ; Nakagawa, Y. ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 23 (1995-07-01), S. 506-513
    Online unknown
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    STM characterization of InP gratings for DFB laser fabrication
    Grella, L. ; Meneghini, G. ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 22 (1994-07-01), S. 296-299
    Online unknown
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    Correction of drift and slope distortions in STM image and scanner calibration
    Yurov, V.Yu. ; Klimov, A. N.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 22 (1994-07-01), S. 84-88
    Online unknown
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    Identification of hydrogen bond characterizations of isomeric 4Bpy and 2Bpy by STM
    Wang, Chen ; Xu, Bo ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 32 (2001), S. 245-247
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Electronic structure and STM images of Na on Al(111)
    Máca, F.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 27 (1999-05-01), S. 555-557
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Application of an STM/SEM instrument for the study of materials: Tip effects and data correlation
    Gómez-Rodríguez, José M. ; Vázquez, Luis ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 16 (1990-07-01), S. 97-104
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    STM-induced Annealing and Nanoextrusion in nm-Period Multilayers
    Thomas, J. ; Pompe, Wolfgang ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 25 (1997-06-01), S. 596-605
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Composition and thickness of surface layer on molybdenum tips for scanning tunnelling microscopy (STM) studied by SEM/AES/(AR)XPS
    A. van den Berg ; A. van Silfhout ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 19 (1992-06-01), S. 93-99
    Online unknown
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    AFM and STM Characterization of TiO2?Ultrafiltration Membranes
    Richter, Hannes ; Beyer, Dirk ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 25 (1997-06-01), S. 593-595
    Online unknown
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