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17 Treffer

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    SOI CMOS Devices / SOI CMOSデバイス
    Toshiaki, TSUCHIYA ; 敏章, 土屋
    In: 日本信頼性学会誌 信頼性, Jg. 23 (2001-03-25), Heft 2, S. 229
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    7.6 Micro-Wave/Millimeter-Wave All Si CMOS Multiband Receiver Front-End IC(7. Responsiveness,<Special Survey>Dependable VLSI System) / 7.6 マイクロ波/ミリ波帯オールシリコンCMOSマルチバンド受信フロントエンドIC(第7章:時間応答性,<特集>ディペンダブルVLSIシステム)
    Eiji, TANIGUCHI ; Kazuo, TSUBOUCHI ; et al.
    In: 日本信頼性学会誌 信頼性, Jg. 35 (2013-12-01), Heft 8, S. 485
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    I_DDQを用いたCMOS-LSIのテスティング・故障解析・故障診断 / Testing, Failure Analysis and Fault Diagnosis Technique of CMOS-LSI Using I_DDQ
    Masaru, SANADA ; 克, 真田
    In: 日本信頼性学会誌 信頼性, Jg. 24 (2002-11-25), Heft 8, S. 711
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    NBTI劣化モデルの最新動向(CMOS技術の限界,課題,新しい展開) / The Latest Trend of the NBTI Degradation Model(CMOS Technology-Limit, Challenge and New Development)
    Koji, OBINATA ; 浩二, 大日方
    In: 日本信頼性学会誌 信頼性, Jg. 33 (2011-07-01), Heft 4, S. 164
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    The Reliability and Electrical Characteristics of Embedded Passive and Active Devices Technology(CMOS Technology-Limit, Challenge and New Development) / 部品内蔵配線板技術の信頼性特性と電気特性(CMOS技術の限界,課題,新しい展開)
    Yoshitaka, FUKUOKA ; 義孝, 福岡
    In: 日本信頼性学会誌 信頼性, Jg. 33 (2011-07-01), Heft 4, S. 170
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    CMOSデバイスのばらつき(CMOS技術の限界,課題,新しい展開) / Variability of CMOS Devices(CMOS Technology-Limit, Challenge and New Development)
    Toshiyuki, TSUTSUMI ; 利幸, 堤
    In: 日本信頼性学会誌 信頼性, Jg. 33 (2011-07-01), Heft 4, S. 158
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    'More than Moore'への展開(CMOS技術の限界,課題,新しい展開) / Developments to More than Moore(CMOS Technology-Limit, Challenge and New Development)
    Tadamasa, KIMURA ; 忠正, 木村
    In: 日本信頼性学会誌 信頼性, Jg. 33 (2011-07-01), Heft 4, S. 180
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    CMOS技術の限界と課題(CMOS技術の限界,課題,新しい展開) / Challenge Towards the Limit of CMOS Technology(CMOS Technology-Limit, Challenge and New Development)
    Hiroshi, IWAI ; 洋, 岩井
    In: 日本信頼性学会誌 信頼性, Jg. 33 (2011-07-01), Heft 4, S. 152
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    2002年度高木賞講評(I_<DDQ>を用いたCMOS-LSIのテステイング・故障解析・故障診断)
    和幸, 鈴木
    In: 日本信頼性学会誌 信頼性, Jg. 25 (2003-07-25), Heft 5, S. 475
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    2.2 CMOS LSIにおける結晶欠陥モードの解析と対策(セッション2「故障解析2」)
    実也, 中村 ; 誠吾, 伊藤 ; et al.
    In: 日本信頼性学会誌 信頼性, Jg. 25 (2003-05-25), Heft 3, S. 305
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    6-4 OBICを用いたレーザービームキャリア注入技術によるCMOS LSIの不良解析 : LIST法(Light lnduced State Transition Method)による不良解析(日本信頼性学会第9回信頼性シンポジウム)
    伸仁, 三浦 ; 知世, 小谷 ; et al.
    In: 日本信頼性学会誌 信頼性, Jg. 18 (1996-11-10), Heft 7, S. 613
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    1b-4 CMOSバーン・イン不良とその発生原因(第7回信頼性シンポジウム)
    修, 中山 ; 匡教, 原田 ; et al.
    In: 日本信頼性学会誌 信頼性, Jg. 16 (1994-10-28), Heft 4, S. 43
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Suppression of heavy-ion irradiation induced parasitic bipolar effects in short channel SOI devices / 微細SOIデバイスの重イオン照射誘起寄生バイポーラ効果抑制
    Yan, WU ; Yoshihiro, TAKAHASHI ; et al.
    In: 日本信頼性学会誌 信頼性, Jg. 39 (2017), Heft 3, S. 145
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A Relay Drive Circuit for a Safe Operation Order and its Fail-safe Measures
    Kiyoshi, TANAKA ; Sansak, DEEON ; et al.
    2012
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Fault Detection and Fault Diagnosis with I_<DDQ> Measurement / I_<DDQ>計測による故障検出と故障診断
    Tamamoto, Hideo ; Kinoshita, Kozo ; et al.
    In: 日本信頼性学会誌 信頼性, Jg. 19 (1997-06-10), Heft 4, S. 309
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    HARDWARE and SOFTWARE APPROACH for IDDQ TEST / ハードウエア手法とソフトウエア手法を利用したIDDQテスト
    Yamauchi, Hisashi ; Wakui, Kazuo ; et al.
    In: 日本信頼性学会誌 信頼性, Jg. 18 (1996-11-10), Heft 7, S. 113
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    HARDWARE and SOFTWARE APPROACH for IDDQ TEST / ハードウエア手法とソフトウエア手法を利用したIDDQテスト
    Yamauchi, Hisashi ; Wakui, Kazuo ; et al.
    In: 日本信頼性学会誌 信頼性, Jg. 18 (1996-07-10), Heft 5, S. 391
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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