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    Anti phase boundary free GaSb layer grown on 300 mm (001)-Si substrate by metal organic chemical vapor deposition.
    Cerba, T. ; Martin, M. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 645 (2018), S. 5-9
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Low temperature growth and physical properties of InAs thin films grown on Si, GaAs and In0.53Ga0.47As template.
    Alcotte, Reynald ; Martin, Mickael ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 645 (2018), S. 119-123
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Structural and dielectric characterization of sputtered Tantalum Titanium Oxide thin films for high temperature capacitor applications.
    Rouahi, A. ; Challali, F. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 606 (2016-05-01), S. 127-132
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Surface and interfacial interactions of multilayer graphitic structures with local environment.
    Mazzocco, R. ; Robinson, B.J. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 585 (2015-06-30), S. 31-39
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Nanomechanical mapping of graphene layers and interfaces in suspended graphene nanostructures grown via carbon diffusion.
    Robinson, B.J. ; Rabot, C. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 550 (2014), S. 472-479
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    In-situ visualization and order quantification of symmetric diblock copolymer directed self-assembly.
    Salaün, M. ; Le Gallic, M. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 543 (2013-09-30), S. 148-152
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Investigation of HfO<subscript>2</subscript> and ZrO<subscript>2</subscript> for Resistive Random Access Memory applications
    Salaün, A. ; Grampeix, H. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 525 (2012-12-15), S. 20-27
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Resistive switching of HfO<subscript>2</subscript>-based Metal–Insulator–Metal diodes: Impact of the top electrode material
    Bertaud, T. ; Walczyk, D. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 520 (2012-05-01), Heft 14, S. 4551-4555
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Multi-solvent ellipsometric porosimetry analysis of plasma-treated porous SiOCH films
    Licitra, C. ; Bouyssou, R. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 518 (2010-07-01), Heft 18, S. 5140-5145
    academicJournal
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Combined spectroscopic ellipsometry and attenuated total reflection analyses of Al<subscript>2</subscript>O<subscript>3</subscript>/HfO<subscript>2</subscript> nanolaminates
    Bonvalot, M. ; Kahn, M. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 518 (2010-07-01), Heft 18, S. 5057-5060
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Structural properties of films grown by magnetron sputtering of a BiFeO<subscript>3</subscript> target
    Ternon, C. ; Thery, J. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 515 (2006-10-25), Heft 2, S. 481-484
    academicJournal
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    In situ ellipsometry monitoring of TiO[formula omitted] atomic layer deposition from Tetrakis(dimethylamido)titanium(IV) and H[formula omitted]O precursors on Si and In[formula omitted]Ga[formula omitted]As substrates.
    Skopin, E.V. ; Abdukayumov, K. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 723 (2021-04-01), S. N.PAG
    academicJournal
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    Selective epitaxial growth of AlGaAs/GaAs heterostructures on 300 mm Si(001) for red optical emission.
    Touraton, Marie-Leonor ; Martin, Mickael ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 721 (2021-03-01), S. N.PAG
    academicJournal
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    Photoluminescence mapping of the strain induced in InP and GaAs substrates by SiNx stripes etched from thin films grown under controlled mechanical stress.
    Gérard, Solène ; Mokhtari, Merwan ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 706 (2020-07-31), S. N.PAG
    academicJournal
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