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In: Proceedings of symposium I on thin films for large area electronics: EMRS 2007[2006] conference, Nice, France, Jg. 515 (2007), Heft 19, S. 7508-7512KonferenzZugriff:
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In: Proceedings of the Fourth International Conference on Silicon Epitaxy and Heterostructures (ICSI-4), Awaji Island, Hyogo, Japan, Jg. 508 (2006), Heft 1-2, S. 48-52KonferenzZugriff:
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Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
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In: Thin Solid Films, Jg. 529 (2013-02-01), S. 421-425academicJournalZugriff:
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In: Thin Solid Films, Jg. 516 (2008-07-31), Heft 18, S. 6321-6324academicJournalZugriff:
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In: Thin Solid Films, Jg. 515 (2007-07-31), Heft 20/21, S. 8094-8100academicJournalZugriff:
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Insight into excimer laser crystallization exploiting ellipsometry: Effect of silicon film precursorIn: Thin Solid Films, Jg. 515 (2007-07-16), Heft 19, S. 7508-7512academicJournalZugriff:
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In: Thin Solid Films, Jg. 516 (2008-07-01), S. 6321-6324Online unknownZugriff:
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Insight into excimer laser crystallization exploiting ellipsometry: Effect of silicon film precursorIn: Thin Solid Films, Jg. 515 (2007-07-01), S. 7508-7512Online unknownZugriff:
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In: Thin Solid Films, Jg. 515 (2007-07-01), S. 8094-8100Online unknownZugriff:
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In: Thin Solid Films, Jg. 508 (2006-06-01), S. 48-52Online unknownZugriff: