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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Millitorr range PECVD of a-SiO2 films using TEOS and oxygen
    Devine, R. A. B. ; Madar, Roland ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 241 (1994-04-01), S. 251-254
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Low temperature growth and physical properties of InAs thin films grown on Si, GaAs and In0.53Ga0.47As template
    Bogumilowicz, Y. ; Martin, Mickael ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 645 (2018), S. 119-123
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Structural properties of films grown by magnetron sputtering of a BiFeO.sub.3 target
    Ternon, C. ; Thery, J. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 515 (2006-10-25), Heft 2, S. 481-484
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Combined spectroscopic ellipsometry and attenuated total reflection analyses of Al2O3/HfO2 nanolaminates
    Abed, H. ; Jorel, Corentin ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 518 (2010-07-01), S. 5057-5060
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    In situ ellipsometry monitoring of TiO[formula omitted] atomic layer deposition from Tetrakis(dimethylamido)titanium(IV) and H[formula omitted]O precursors on Si and In[formula omitted]Ga[formula omitted]As substrates
    Skopin, E.V. ; Abdukayumov, K. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 723 (2021-04-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Selective epitaxial growth of AlGaAs/GaAs heterostructures on 300 mm Si(001) for red optical emission
    Touraton, Marie-Leonor ; Martin, Mickael ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 721 (2021-03-01)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Photoluminescence mapping of the strain induced in InP and GaAs substrates by SiNx stripes etched from thin films grown under controlled mechanical stress
    Gérard, Solène ; Mokhtari, Merwan ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 706 (2020-07-31)
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Surface and interfacial interactions of multilayer graphitic structures with local environment
    Mazzocco, R. ; Robinson, B.J. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 585 (2015-06-30), S. 31-39
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Nanomechanical mapping of graphene layers and interfaces in suspended graphene nanostructures grown via carbon diffusion
    Robinson, B.J. ; Rabot, C. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 550 (2014), S. 472-479
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    In-situ visualization and order quantification of symmetric diblock copolymer directed self-assembly
    Salaün, M. ; Le Gallic, M. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 543 (2013-09-30), S. 148-152
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Investigation of HfO2 and ZrO2 for Resistive Random Access Memory applications
    Salaün, A. ; Grampeix, H. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 525 (2012-12-15), S. 20-27
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Resistive switching of HfO2-based Metal–Insulator–Metal diodes: Impact of the top electrode material
    Bertaud, T. ; Walczyk, D. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 520 (2012-05-01), Heft 14, S. 4551-4555
    academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Multi-solvent ellipsometric porosimetry analysis of plasma-treated porous SiOCH films
    Licitra, C. ; Bouyssou, R. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 518 (2010), Heft 18, S. 5140-5145
    academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Combined spectroscopic ellipsometry and attenuated total reflection analyses of Al 2O 3/HfO 2 nanolaminates
    Bonvalot, M. ; Kahn, M. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 518 (2010), Heft 18, S. 5057-5060
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Structural properties of films grown by magnetron sputtering of a BiFeO 3 target
    Ternon, C. ; Thery, J. ; et al.
    In: Thin Solid Films, Jg. 515 (2006), Heft 2, S. 481-484
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Combined spectroscopic ellipsometry and attenuated total reflection analyses of Al2O3/HfO2 nanolaminates
    BONVALOT, M ; KAHN, M ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 518 (2010), Heft 18, S. 5057-5060
    academicJournal
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