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    academicJournal
  2. Liang, Ying-Xin
    In: Ultramicroscopy, Jg. 234 (2022-04-01)
    academicJournal
  3. Ionov, Andrei M. ; Chekmazov, Sergey V. ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 218 (2020-11-01)
    academicJournal
  4. FIAN, A ; LEISCH, M
    In: Field emission 2001: proceedings of the 47th international field emission symposium, Berlin, Germany, 29 July-3 August, Jg. 95 (2003), Heft 1-4, S. 189-197
    Konferenz
  5. TAKAHASHI, Takuji ; TAKADA, Kan ; et al.
    In: SPM 2002: Proceedings of the Fourth International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures, Las Vegas, Nevada, USA, May 26-29, Jg. 97 (2003), Heft 1-4, S. 1-6
    Konferenz
  6. CONTER, S. Antoranz ; IWASAKI, H ; et al.
    In: SPM 2002: Proceedings of the Fourth International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures, Las Vegas, Nevada, USA, May 26-29, Jg. 97 (2003), Heft 1-4, S. 65-72
    Konferenz
  7. ZHIGANG, WANG ; CHUNQING, ZHOU ; et al.
    In: SPM 2002: Proceedings of the Fourth International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures, Las Vegas, Nevada, USA, May 26-29, Jg. 97 (2003), Heft 1-4, S. 73-79
    Konferenz
  8. ANTORANZ CONTERA, Sonia ; IWASAKI, Hiroshi
    In: SPM 2001 Proceedings of the Third International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures, Makuhari, Chiba, Japan, May 27-31, Jg. 91 (2002), Heft 1-4, S. 231-243
    Konferenz
  9. BASKI, A. A ; JONES, K. M ; et al.
    In: SPM 2000: Proceedings of the Second International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures, Jg. 86 (2001), Heft 1-2, S. 23-30
    Konferenz
  10. ZUBER, S. M ; SZCZUDLO, Z ; et al.
    In: Field emission 2001: proceedings of the 47th international field emission symposium, Berlin, Germany, 29 July-3 August, Jg. 95 (2003), Heft 1-4, S. 165-169
    Konferenz
  11. SHIMIZU, T ; KIM, J.-T ; et al.
    In: Field Emission '97 International Field Emission Symposium, Jg. 73 (1998), Heft 1-4, S. 157-162
    Konferenz
  12. DONG, Z.-C ; YAKABE, T ; et al.
    In: Field Emission '97 International Field Emission Symposium, Jg. 73 (1998), Heft 1-4, S. 169-174
    Konferenz
  13. IMTIAZ, Atif ; ANLAGE, Steven M
    In: Ultramicroscopy, Jg. 94 (2003), Heft 3-4, S. 209-216
    academicJournal
  14. SCHIFFMANN, K. I ; FRYDA, M ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 66 (1996), Heft 3-4, S. 183-192
    academicJournal
  15. NEVERNOV, I ; KURNIKOV, I ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 58 (1995), Heft 3-4, S. 269-274
    academicJournal
  16. Stupnik, A. ; Frank, P. ; et al.
    In: ULTRAMICROSCOPY, Jg. 109 (2009), S. 563-567
    Konferenz
  17. Lee, N. S. ; Choi, W. S. ; et al.
    In: ULTRAMICROSCOPY, Jg. 108 (2008), Heft 10, S. 1101-1105
    Konferenz
  18. Battaglini, N. ; Klein, H. ; et al.
    In: ULTRAMICROSCOPY, Jg. 107 (2007), Heft 10-11, S. 958-962
    Konferenz
  19. Wang, Z. ; Zhou, C. ; et al.
    In: ULTRAMICROSCOPY, Jg. 97 (2003), Heft NO 1-4, S. 73-80
    Konferenz
  20. Contera, S. A. ; Iwasaki, H. ; et al.
    In: ULTRAMICROSCOPY, Jg. 97 (2003), Heft NO 1-4, S. 65-72
    Konferenz
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