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Verlag
Publikation
- spm 2002: proceedings of the fourth international conference on scanning probe microscopy, sensors and nanostructures, las vegas, nevada, usa, may 26-29, 2002 2 Treffer
- field emission 2000: proceedings of the 46th international field emission symposium, pittsburgh, pa, usa, 23-28 july 2000 1 Treffer
- field emission '97 international field emission symposium 1 Treffer
Sprache
182 Treffer
-
In: ULTRAMICROSCOPY, Jg. 109 (2009), S. 619-624KonferenzZugriff:
-
In: ULTRAMICROSCOPY, Jg. 119 (2012), S. 18-23serialPeriodicalZugriff:
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In: ULTRAMICROSCOPY, Jg. 108 (2008), Heft 9, S. 873-877serialPeriodicalZugriff:
-
In: Ultramicroscopy, Jg. 85 (2000), Heft 1, S. 23-33academicJournalZugriff:
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In: ULTRAMICROSCOPY, Jg. 85 (2000), Heft 1, S. 23-33serialPeriodicalZugriff:
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In: Ultramicroscopy, Jg. 57 (1995), Heft 4, S. 391-408academicJournalZugriff:
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In: Ultramicroscopy, Jg. 45 (1992), Heft 1, S. 95-101academicJournalZugriff:
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In: Ultramicroscopy, Jg. 45 (1992), Heft 1, S. 145-154academicJournalZugriff:
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In: Ultramicroscopy, Jg. 35 (1991), Heft 3-4, S. 323-328academicJournalZugriff:
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In: Ultramicroscopy, Jg. 85 (2000), Heft 1, S. 23-33academicJournalZugriff:
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In: Ultramicroscopy, Jg. 108 (2008-08-01), S. 873-877Online unknownZugriff:
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