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    Physics of Deep Submicron CMOS VLSI : 27th International Conference on the Physics of Semiconductors : ICPS-27
    Buss, D. D.
    In: AIP CONFERENCE PROCEEDINGS, Jg. 772 (2005), Heft B, S. 1591-1594
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Spatio-Temporal Simulation in Subthreshold CMOS : Applied nonlinear dynamics and stochastic systems near the millenium
    Neeley, J. ; Harris, J. G.
    In: AIP CONFERENCE PROCEEDINGS, , Heft E 411, S. 255-260
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Drain and Gate Current LF Noise in Advanced CMOS devices with Ultrathin gate Oxides.
    Contaret, T. ; Romanjek, K. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 780 (2005-08-25), Heft 1, S. 315-318
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Analysis of Error Sources in On-Wafer Noise Characterization of RF CMOS Transistors.
    Wiatr, Wojciech
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 780 (2005-08-25), Heft 1, S. 697-700
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Low-Frequency Noise Characterization of 90 nm Multiple Gate Oxide CMOS Transistors.
    Lukyanchikova, N. ; Garbar, N. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 780 (2005-08-25), Heft 1, S. 331-334
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Modeling and characterization of noise in 90-nm RF CMOS technology.
    Scholten, A. J. ; Tiemeijer, L. F. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 780 (2005-08-25), Heft 1, S. 735-740
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Metrology for Emerging Devices and Materials.
    Vogel, Eric M.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 788 (2005-09-09), Heft 1, S. 650-655
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Low Loss Nanophotonic Waveguides and Ring Resonators in Silicon-on-Insulator.
    Baets, Roel ; Bogaerts, Wim ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 709 (2004-05-10), Heft 1, S. 308-327
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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