Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
29 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Schlagwort

29 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Radiation-Induced Leakage Current and Electric Field Enhancement in CMOS Image Sensor Sense Node Floating Diffusions
    Belloir, Jean-Marc ; Goiffon, Vincent ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-03-01), S. 616-624
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Single-Event Upsets in Substrate-Etched CMOS SOI SRAMs Using Ultraviolet Optical Pulses With Sub-Micrometer Spot Size
    Larue, C. ; Pouget, Vincent ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-12-01), S. 4184-4191
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Analysis of CCD Dark Current Degradation in Orbit
    Gilard, Olivier ; Fougnie, B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-08-01), S. 2142-2148
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    A Heavy-Ion Tolerant Clock and Data Recovery Circuit for Satellite Embedded High-Speed Data Links
    Neveu, Claude ; Pouget, Vincent ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 54 (2007-12-01), S. 2080-2085
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Estimation of low-dose-rate degradation on bipolar linear integrated circuits using switching experiments
    Schrimpf, Ronald D. ; Chatry, C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 52 (2005-12-01), S. 2616-2621
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Role of Electron-Induced Coulomb Interactions to the Total SEU Rate During Earth and JUICE Missions
    Caron, P. ; Inguimbert, Christophe ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-08-01), S. 1607-1612
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    A New Technique Based on Convolutional Neural Networks to Measure the Energy of Protons and Electrons With a Single Timepix Detector
    Mekki, Julien ; Bergmann, Benedikt ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-08-01), S. 1746-1753
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Degradation Study of InGaAsN p-i-n Solar Cell Under 1-MeV Electron Irradiation
    Massiot, Inès ; Parola, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-08-01), S. 1694-1700
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    New Model for the Plasma Electrons Fluxes (Part of GREEN Model)
    Bourdarie, S. ; Standarovski, Denis ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-07-01), S. 1738-1745
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Physical Mechanisms Inducing Electron Single-Event Upset
    Artola, Laurent ; Caron, P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018-08-01), S. 1759-1767
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Total Ionizing Dose Radiation-Induced Dark Current Random Telegraph Signal in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors
    Alexandre Le Roch ; Rubaldo, Laurent ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018), S. 92-100
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Proton-Induced Single-Event Degradation in SDRAMs
    Wrobel, Frédéric ; Rodriguez, A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-08-01), S. 2115-2121
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    The Role of Feedback Resistors and TID Effects in the ASET Response of a High Speed Current Feedback Amplifier
    Privat, A. ; Boch, Jerome ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), S. 3201-3209
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Radiation-Induced Dose and Single Event Effects in Digital CMOS Image Sensors
    Goiffon, Vincent ; Toulemont, Arthur ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-12-01), S. 3331-3340
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Unfolding JASON-2/ICARE-NG High-Energy Particles Measurements Using a Singular Value Decomposition Approach
    Lorfevre, Eric ; Maget, Vincent ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-08-01), S. 1687-1694
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Study and Modeling of the Impact of TID on the ATREE Response in LM124 Operational Amplifier
    Boch, Jerome ; Roche, Nicolas ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-08-01), S. 1603-1610
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Radiation Belt Activity Indices and Solar Proton Event Alarm
    Bourdarie, Sebastien ; Lorfevre, Eric ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-08-01), S. 1671-1678
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Post-Irradiation-Gate-Stress on Power MOSFETs: Quantification of Latent Defects-Induced Reliability Degradation
    Vaille, J.-R. ; Touboul, Andre ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-12-01), S. 4166-4174
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Proton Flux Anisotropy in the Atmosphere: Experiment and Modeling
    Clair, Marie-Anne ; Chadoutaud, Pierre ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-08-01), S. 2386-2391
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Negative Bias Temperature Instability Effect on the Single Event Transient Sensitivity of a 65 nm CMOS Technology
    Larue, C. ; Lewis, Dean ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-08-01), S. 2635-2639
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -