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    A new TCAD simulation method for direct CMOS electron detectors optimization
    Marcelot, O. ; Marcelot, C. ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 243 (2022-06-02)
    Online unknown
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    Implementation and operation of a fiber-coupled CMOS detector in a low energy electron Microscope
    Franz, T. ; M. Horn-von Hoegen ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 221 (2021-02-01), S. 113180-113180
    Online unknown
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    Comparison of detection limits of direct-counting CMOS and CCD cameras in EELS experiments
    Haruta, Mitsutaka ; Kikkawa, Jun ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 240 (2022-02-09)
    Online unknown
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    Holographic voltage profiling on 75 nm gate architecture CMOS devices
    Frost, Bernhard G. ; Joy, David C. ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 94 (2003-01-14), Heft 3-4
    Online unknown
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    Nanochemical surface analyzer in CMOS technology
    Baltes, Henry ; Franks, W. ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 91 (2002-09-05), Heft 1-4
    Online unknown
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    Extraction of acceptor concentration map from EBIC experiments
    Magnan, P. ; Marcelot, O.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 228 (2021-01-21)
    Online unknown
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    Integrated wafer-scale manufacturing of electron cryomicroscopy specimen supports
    Russo, Christopher J. ; Naydenova, Katerina
    In: Ultramicroscopy, Jg. 232 (2022), S. 113396-113396
    Online unknown
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    Comparison of optimal performance at 300keV of three direct electron detectors for use in low dose electron microscopy
    McMullan, Greg ; Faruqi, A.R. ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 147 (2014-12-01), S. 156-163
    Online unknown
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Sub-pixel electron detection using a convolutional neural network
    Jan Pieter Abrahams ; Eric van Genderen ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 218 (2020-11-01), S. 113091-113091
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Enhanced imaging in low dose electron microscopy using electron counting
    Clark, A. ; Faruqi, A.R. ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 109 (2009-11-01), Heft 12, S. 1411-1416
    Online unknown
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Detective quantum efficiency of electron area detectors in electron microscopy
    Chen, Shaoxia ; McMullan, Greg ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 109 (2009-08-01), Heft 9, S. 1126-1143
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A complementary-metal-oxide-semiconductor-field-effect-transistor-compatible atomic force microscopy tip fabrication process and integrated atomic force microscopy cantilevers fabricated with this process
    Ono, Mizuki ; Brand, Oliver ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 91 (2002-05-01), S. 9-20
    Online unknown
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Off-axis electron holography with a dual-lens imaging system and its usefulness in 2-D potential mapping of semiconductor devices
    Wang, Yun-Yu ; Gribelyuk, Michael A. ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 101 (2003-09-17), Heft 2-4
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Active pixel sensor array as a detector for electron microscopy
    Kleinfelder, Stuart ; Bieser, F. S. ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 104 (2004-10-22), Heft 2
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Thermal nanometrology using piezoresistive SThM probes with metallic tips
    Gotszalk, Teodor ; Janus, Paweł ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 193 (2017-05-15)
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Imaging and strain analysis of nano-scale SiGe structures by tip-enhanced Raman spectroscopy
    Chumakov, Dmytro ; Hermann, Peter ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 111 (2011-11-01), S. 1630-1635
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    AFM lithography of aluminum for fabrication of nanomechanical systems
    Borisé, X. ; Boisen, Anja ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 97 (2003-06-13), Heft 1-4
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Piezoresistive sensors for scanning probe microscopy
    Rangelow, Ivo W. ; Grabiec, Piotr ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 82 (2000-03-31), Heft 1-4
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A novel sample preparation technique for cross-sectional tem investigation of integrated circuits
    Vanhellemont, J. ; J. Van Landuyt ; et al.
    In: Ultramicroscopy, Jg. 11 (1983), S. 303-305
    Online unknown
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