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    A Sub-1 ppm/degrees C CMOS Bandgap Voltage Reference With Process Tolerant Piecewise Second-Order Curvature Compensation
    Ahn, Yongjoon ; Kim, Suhwan ; et al.
    2022
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Detecting intermittent resistive faults in digital CMOS circuits
    Ebrahimi, Hassan ; Rohani, Alireza ; et al.
    2016
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    The influence of no fault found in analogue CMOS circuits
    Wan, Jinbo ; Kerkhoff, Hans G.
    2014
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    10 GHz bandwidth of Si avalanche photodiode fabricated by standard 0.18 μm CMOS process
    Koichi, Iiyama ; Toshiyuki, Shimotori ; et al.
    2014
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    CMOS Transmitter using Pulse-Width Modulation Pre-Emphasis achieving 33dB Loss Compensation at 5-Gb/s
    Schrader, J.H.R. ; Klumperink, E.A.M. ; et al.
    2005
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    High-speed lateral polysilicon photodiode in standard CMOS
    Radovanović, S. ; Annema, A.J. ; et al.
    2003
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Frequency Compensation of an SOI Bipolar-CMOS-DMOS Car Audio PA
    Zee, R.A.R. van der ; Heeswijk, R. van
    2006
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Fully integrated CMOS avalanche photodiode and distributed-gain TIA for CW-fNIRS
    Kamrani, Ehsan ; Sawan, Mohamad
    2011
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    ROPAD+: Enhancing the Digital Ring Oscillator Probing Attempt Detector for Protecting Irregular Data Buses
    Moghadas ; Seyed Hamidreza and Pehl ; et al.
    2022
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Reliability of SAR ADCs and associated embedded instrument detection
    Wan, Jinbo ; Kerkhoff, Hans G.
    2015
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Pulse-length determination techniques in the rectangular single event transient fault model
    Rohani, Alireza ; Kerkhoff, Hans G. ; et al.
    2013
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -