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    Noise Immunity Improvement in Dynamic CMOS circuits
    Khare, Kavita ; Ambulker, Sunanda ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2010
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    Numerical Simulation Analysis of CMOS Compatible Process of 50 nm Vertical Single and Double Gate NMOSFET
    Saad, I. ; Ismail, R. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2010
    Online unknown
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    CMOS Integrated Carbon Nanotube Sensor
    Perez, M. S. ; Lerner, B. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2009
    Online unknown
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    Design of Transmission Gate VCO and Dynamic PFD for Low Power CMOS PLL
    Yuan, S. C. ; Simos, Theodore E. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2008
    Online unknown
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    Impact of Advanced Gate Stack Engineering On Low Frequency Noise Performances of Planar Bulk CMOS transistors
    Mercha, A. ; Okawa, H. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2009
    Online unknown
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    Modeling and characterization of flicker noise in CMOS transistors from subthreshold to strong inversion
    Chang, Jimmin ; Viswanathan, C. R.
    In: AIP Conference Proceedings, 1993
    Online unknown
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    Development of cryogenic readout electronics using fully-depleted-silicon-on-insulator CMOS process for future space borne far-infrared image sensors
    Nagata, Hirohisa ; Wada, Takehiko ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2009
    Online unknown
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    Characterization and Metrology for Nanoelectronics
    Diebold, Alain C. ; Seiler, David G. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2007
    Online unknown
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    Leakage Control of Digital Circuits Using McCMOS Technique
    Kayal, Dibyendu ; Dandapat, Anup ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2010
    Online unknown
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    Metrology (including Materials Characterization) for Nanoelectronics
    Diebold, Alain C.
    In: AIP Conference Proceedings, 2005
    Online unknown
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    Analysis of static noise margin for 7T SRAM cell using 45 nm technology
    Rastogi, Shishir ; Akashe, Shyam ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2012
    Online unknown
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    Starting Materials and Functional Layers for The 2005 International Technology Roadmap for Semiconductors: Challenges and Opportunities
    Myers, David ; Standley, Bob ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2005
    Online unknown
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    Advances in submicron process technologies
    Lowe, A. T.
    In: AIP Conference Proceedings, 1986
    Online unknown
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    Silicon-on-insulator: Why, how and when
    Chatterjee, P. ; C. ‐E. Daniel Chen
    In: AIP Conference Proceedings, 1988
    Online unknown
    Zugriff:
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