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    A High Temperature SOI CMOS NO[sub 2] Sensor
    Ali, S. Z. ; Ho, W. O. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2011
    Online unknown
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    Novel Adiabatic-CMOS Interfaces
    Arora, Neha ; Singh, B. P. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2010
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Noise Immunity Improvement in Dynamic CMOS circuits
    Khare, Kavita ; Ambulker, Sunanda ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2010
    Online unknown
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    Numerical Simulation Analysis of CMOS Compatible Process of 50 nm Vertical Single and Double Gate NMOSFET
    Saad, I. ; Ismail, R. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2010
    Online unknown
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    CMOS Integrated Carbon Nanotube Sensor
    Perez, M. S. ; Lerner, B. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2009
    Online unknown
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    Design of Transmission Gate VCO and Dynamic PFD for Low Power CMOS PLL
    Yuan, S. C. ; Simos, Theodore E. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2008
    Online unknown
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    Low Frequency Noise Performance of Advanced Si and Ge CMOS Technologies
    Claeys, C. ; Mercha, A. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2009
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Impact of Advanced Gate Stack Engineering On Low Frequency Noise Performances of Planar Bulk CMOS transistors
    Mercha, A. ; Okawa, H. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2009
    Online unknown
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    USJ Process Challenges for sub-45 nm CMOS
    Kalra, Pankaj ; Majhi, Prashant ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2008
    Online unknown
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    The Impact of Ultra Thin ALD TiN Metal Gate on Low Frequency Noise of CMOS Transistors
    Simoen, Eddy ; Singanamalla, R. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2007
    Online unknown
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    The 'Ultimate' CMOS Device: A 2003 Perspective (Implications For Front-End Characterization And Metrology)
    Huff, Howard R. ; Zeitzoff, Peter
    In: AIP Conference Proceedings, 2003
    Online unknown
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    CMOS Devices and Beyond — A Process Integration Perspective
    Hutchby, J.A. ; Bourianoff, George I. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2003
    Online unknown
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    Requirements and Challenges in Ion Implanters for Sub-100nm CMOS Device Fabrication
    Jeong, Ukyo ; Mehta, Sandeep ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2003
    Online unknown
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    Spatio-temporal simulation in subthreshold CMOS
    Neeley, John ; Harris, John G.
    In: AIP Conference Proceedings, 1997
    Online unknown
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    Backside picosecond timing measurements on CMOS integrated circuits
    Tsang, J. C. ; Kash, J. A.
    In: AIP Conference Proceedings, 2001
    Online unknown
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    Modeling and characterization of flicker noise in CMOS transistors from subthreshold to strong inversion
    Chang, Jimmin ; Viswanathan, C. R.
    In: AIP Conference Proceedings, 1993
    Online unknown
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    Development of cryogenic readout electronics using fully-depleted-silicon-on-insulator CMOS process for future space borne far-infrared image sensors
    Nagata, Hirohisa ; Wada, Takehiko ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2009
    Online unknown
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    Drain and Gate Current LF Noise in Advanced CMOS devices with Ultrathin gate Oxides
    Chroboczek, J. A. ; Skotnicki, T. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2005
    Online unknown
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    Characterization and Metrology for Nanoelectronics
    Diebold, Alain C. ; Seiler, David G. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2007
    Online unknown
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    Benefits of Damage Engineering for PMOS Junction Stability
    Khaja, Fareen ; Colombeau, Benjamin ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, 2011
    Online unknown
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