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    Perspective on active submillimeter electromagnetic wave imaging using CMOS integrated circuits technologies.
    O, Kenneth K. ; Choi, Wooyeol ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 133 (2023-04-21), Heft 15, S. 1-15
    Online academicJournal
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    academicJournal
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    Switching mechanisms of CMOS-compatible ECRAM transistors—Electrolyte charging and ion plating.
    Tessler, Nir ; Kim, Nayeon ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 134 (2023-08-21), Heft 7, S. 1-10
    Online academicJournal
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    Self-adaptive fusion method for scientific CMOS image sensors with variable gain ratios and background values.
    Zhou, Errui ; Li, Binkang ; et al.
    In: Review of Scientific Instruments, Jg. 94 (2023-05-01), Heft 5, S. 1-9
    Online academicJournal
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    Konferenz
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    Design of high-speed low power CMOS operational amplifier utilizing 0.18-µm technology for ADC applications.
    Murad, S. A. Z. ; Bakar, F. A. ; et al.
    In: AIP Conference Proceedings, Jg. 2579 (2023-09-20), Heft 1, S. 1-9
    Konferenz
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    Fabrication of the low-k films with tunable k value as spacers in advanced CMOS technology.
    Qian, Lewen ; Sun, Xin ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films, Jg. 42 (2024-03-01), Heft 2, S. 1-12
    academicJournal
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    Investigation of proton single-event transient in CMOS image sensor.
    Peng, Zhigang ; Fu, Yanjun ; et al.
    In: AIP Advances, Jg. 14 (2024), Heft 1, S. 1-8
    Online academicJournal
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    300 mm CMOS-compatible superconducting HfN and ZrN thin films for quantum applications.
    Potjan, Roman ; Wislicenus, Marcus ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 123 (2023-10-23), Heft 17, S. 1-8
    Online academicJournal
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    Nanotip-based CMOS photosensitive architecture for highly sensitive near-infrared imaging detection.
    Liu, Taige ; Shi, Jiashuo ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 123 (2023-10-02), Heft 14, S. 1-7
    Online academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Hybrid cross correlation and line-scan alignment strategy for CMOS chips electron-beam lithography processing.
    Dawant, Raphaël ; Seils, Robyn ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Nanotechnology & Microelectronics, Jg. 40 (2022), Heft 1, S. 1-7
    academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Time-dependent dielectric breakdown of SiC-CMOS technology for harsh environments.
    Masunaga, Masahiro ; Sasago, Yoshitaka ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 124 (2024-01-22), Heft 4, S. 1-4
    Online academicJournal
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    Thermoelectric transport properties of Si, SiGe, and silicide CMOS-compatible thin films.
    Schwinge, C ; Hoffmann, R ; et al.
    In: The Review of scientific instruments, Jg. 94 (2023-10-01), Heft 10
    Online academicJournal
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    Analog programming of CMOS-compatible Al<subscript>2</subscript>O<subscript>3</subscript>/TiO<subscript>2−x</subscript> memristor at 4.2 K after metal-insulator transition suppression by cryogenic reforming.
    Mouny, Pierre-Antoine ; Dawant, Raphaël ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 123 (2023-10-16), Heft 16, S. 1-7
    Online academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Analog programming of CMOS-compatible Al2O3/TiO2−x memristor at 4.2 K after metal-insulator transition suppression by cryogenic reforming.
    Mouny, Pierre-Antoine ; Dawant, Raphaël ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 123 (2023-10-16), Heft 16, S. 1-7
    Online academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Absolute calibration up to 20 MeV of an online readout CMOS system suitable to detect high-power lasers accelerated protons
    Burdonov, K. ; Lelièvre, R. ; et al.
    In: Review of scientific instruments, Jg. 94 (2023), Heft 8
    Online serialPeriodical
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Phosphorus deactivation by hydrogen on hot carrier stressed high-voltage N-channel field effect transistor CMOS device demonstrated by scanning capacitance microscopy imaging
    Nxumalo, Jochonia ; Smith, Mike ; et al.
    In: Journal of vacuum science and technology.B.Nanotechnology & microelectronics, Jg. 41 (2023), Heft 4
    serialPeriodical
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    Hybrid CMOS detectors for high-speed X-ray imaging
    Porter, J. L. ; Looker, Q. ; et al.
    In: Review of scientific instruments, Jg. 94 (2023), Heft 6
    Online serialPeriodical
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