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    X-ray photoelectron spectroscopy study for band alignments of BaTiO3/Ga2O3 and In2O3/Ga2O3 heterostructures
    Wang, Xia ; Chu, Xulong ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology A, Jg. 38 (2020-03-01), S. 023202-23202
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    Growth and ellipsometric characterizations of highly (111)-oriented Bi2Ti2O7 films on platinized silicon by metal organic decomposition method
    Zhu, Ziqiang ; Zhu, M. ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films, Jg. 26 (2008-09-01), S. 1287-1292
    Online unknown
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    Growth of InN on Si (111) by atmospheric-pressure metal-organic chemical vapor deposition using InN∕AlN double-buffer layers
    Wang, Shing-Chung ; Huang, Yu-Hsiang ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films, Jg. 26 (2008-07-01), S. 587-591
    Online unknown
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    Effects of pulsing parameters on production and distribution of macroparticles in cathodic vacuum arc deposition
    Chu, Paul K. ; Dai, Hua ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films, Jg. 24 (2006-07-01), S. 957-961
    Online unknown
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    Study of preferred orientation of zinc oxide films on the 64°LiNbO3 substrates and their applications as liquid sensors
    Tung Yi Huang ; Chu, Sheng-Yuan ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films, Jg. 22 (2004-11-01), S. 2424-2430
    Online unknown
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    Deposition of preferred-orientation ZnO films on the ceramic substrates and its application for surface acoustic wave filters
    Water, Walter ; Chu, Sheng-Yuan ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films, Jg. 22 (2004-07-01), S. 1087-1092
    Online unknown
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    Water-modulated oxidation in the growth of m-ZnO epitaxial thin film by atomic layer deposition
    Ho, New-Jin ; Seo, Hye-Won ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films, Jg. 35 (2017-03-01), S. 021511-21511
    Online unknown
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    High breakdown voltage Au/Pt/GaN Schottky diodes
    Cao, Xian-An ; Mshewa, M. M. ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films, Jg. 18 (2000-07-01), S. 1135-1138
    Online unknown
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    High performance Al–N cermet solar coatings deposited by a cylindrical direct current magnetron sputter coater
    Lu, D.-Q. ; Zhang, Qi-Chu ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films, Jg. 17 (1999-09-01), S. 2885-2890
    Online unknown
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    Fabrication of ferroelectric PbZrxTi1−xO3 thick films and their optical waveguide properties
    Sun, J. L. ; Dai, N. ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films, Jg. 22 (2004-03-01), S. 422-424
    Online unknown
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    Insitudetermination of growth rate by pyrometric interferometry during molecular-beam epitaxy: Application to the growth of AlGaN/GaN quantum wells
    Ng, H. M. ; Chu, S. N. G. ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films, Jg. 19 (2001), S. 292-294
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    Deposition and properties of polycrystalline TiN/NbN superlattice coatings
    Wong, Ming-Show ; Chu, X. ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films, Jg. 10 (1992-07-01), S. 1604-1609
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    Stimulated emission from a Hg1−xCdxTe epilayer and CdTe/Hg1−xCdxTe heterostructures grown by molecular beam epitaxy
    Sivananthan, S. ; Bleuse, J. ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films, Jg. 8 (1990-03-01), S. 1210-1214
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    Resistance switching behaviors of amorphous (ZrTiNi)Ox films for nonvolatile memory devices
    Wang, Sea-Fue ; Chu, Jinn P. ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films, Jg. 32 (2014-11-01), S. 061505-61505
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    190 nm excimer laser drilling of glass slices: Dependence of drilling rate and via hole shape on the diameter of the via hole
    Wang, Yu-Lin ; Ren, Fan ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, Jg. 27 (2009), S. L42
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    Influence of room temperature control on atomic force microscope imaging
    Wei, Chu ; Vorburger, Theodore V. ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, Jg. 27 (2009), S. 2321-2321
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    Characteristics of an InGaP/Al[sub X]Ga[sub 1−X]As/GaAs composite-emitter heterojunction bipolar transistor (CEHBT)
    Cheng, Shiou-Ying ; Chu, Kuei-Yi ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, Jg. 26 (2008), S. 627-627
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    Si metal-oxide-semiconductor devices with high κ HfO[sub 2] fabricated using a novel MBE template approach followed by atomic layer deposition
    Lee, W. C. ; Kwo, J. ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, Jg. 26 (2008), S. 1178-1178
    Online unknown
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    Comparative study on temperature-dependent characteristics of InP∕InGaAs single- and double-heterojunction bipolar transistors
    Tsai, Tsung-Han ; Tzu Pin Chen ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, Jg. 26 (2008), S. 618-618
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    Adaptive wiring for 20 nm scale epitaxial silicon Ohmic contacts to silicon nanowires
    Ott, John A. ; Viswanathan, R. ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, Jg. 25 (2007), S. 2572-2572
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