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    Design for Failure Analysis in a 24 GHz Low-Noise Amplifier for Short Range Radar Applications Created in Silicon CMOS Technology
    Vehring, Soenke ; Gerfers, Friedel ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2017-11-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Scanning Surface Photovoltage Microscopy for Stress Analysis in Nanoscale CMOS Devices
    Slinkman, James A. ; Dahanayaka, D.H. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2017-11-01
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    Capturing Defects in Flip-Chip CMOS Devices Using Backside EBAC Technique and SEM Microscopy
    Li, Yuanjing ; Howard Lee Marks ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2016-11-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Experimental Demonstration of the Effects of Laser Pulse Duration on SEU and LADA in CMOS Devices
    Lin, Zhao ; Chua, C.M. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2016-11-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Analysis of an Anomalous CMOS Transistor Exhibiting Drain to Source Leakage—Its Model and Cause
    VanVianen, Alex ; Wang, Xiang D. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2014-11-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Ultra-Low Voltage Time-Resolved Emission Measurements from 32 nm SOI CMOS Integrated Circuits
    Lundquist, Ted R. ; Weger, Alan J. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2014-11-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    SEM-Based Nanoprobing on 40, 32 and 28 nm CMOS Devices Challenges for Semiconductor Failure Analysis
    Paul, Erik ; Herzog, Holger ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2013-11-01
    Online unknown
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    Detecting Internal 'ESD-Like' Damage on CMOS Gates
    Gores, M. ; Dicken, H.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2010-11-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    A Case Study: Observation of Counter Doping of Gate Poly and Its Validation in High Density 90nm CMOS SRAM Bitcell
    Blankenship, Andrew ; Tsang, Yuk ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2010-11-01
    Online unknown
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    Reliability for Pure CMOS One-Time Programmable Memory Using Gate-Oxide Anti-Fuse (eFuse)
    Wakai, Nobuyuki
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2008-11-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Scanning Capacitance Microscopy Application for Bipolar and CMOS Doping Issues in Semiconductor Failure Analysis
    Chao, Chia-Hsing ; Lin, Coswin ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2005-10-01
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Packaging Material has Contributed to High Idd_Pd Failures in CMOS ICs
    Chew Gim Eng ; Pun Meng Chi ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2006-11-01
    Online unknown
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Backside Deprocessing of CMOS SOI Devices for Physical Defect and Failure Analysis
    Prejean, Seth ; Shannon, Joseph P.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2003-10-01
    Online unknown
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    3D STEM Tomography Based Failure Analysis of 45 nm CMOS Devices
    Delille, Dominique ; Lorut, F.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2008-11-01
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Dopant Analysis on Advanced CMOS Technologies
    Danzfuss, Bodo ; Siegelin, Frank ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2008-11-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Advanced Optical Testing of an Array in 65 nm CMOS Technology
    Song, Peilin ; Christensen, Todd A. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2005-10-01
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Dislocation Related Leakage in Advanced CMOS Devices
    Stuffer, Anton ; Siegelin, Frank
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2005-10-01
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    CMOS Backside Deprocessing With TMAH / IPA as a Sample Preparation Procedure for Failure Analysis
    Bruce, Victoria J. ; Burke, Joyce ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2002-10-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Ultra Low Voltage Probing on 45 nm CMOS by Time Resolved Emission (TRE) Technology
    Vickers, Jim ; Ispasoiu, Radu ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2007-11-01
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Photon Emission Microscopy in 90 nm CMOS Technologies
    Goossens, Martijn ; Kruseman, B. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2004-10-01
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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