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    Accelerating Technology Development and Yield Ramp on First Silicon Utilizing a Wafer-Level Dynamic EFA System
    Chao, Jui-Hao ; Tsao, Chun-Cheng ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2016-11-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    A Position-Sensitive, Single-Photon Detector with Enhanced NIR Response
    Song, Peilin ; Kim, Stanley ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2011-11-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Evaluating PICA Capability for Future Low Voltage SOI Chips
    Stellari, Franco ; Ispasoiu, Radu ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2008-11-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -