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    Radiation Effects of A 10 - bit CMOS A/D Converter Under Different Dose Rates
    Chen, R.
    In: NUCLEAR ELECTRONICS AND DETECTION TECHNOLOGY, Jg. 31 (2011), Heft 2, S. 204-208
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Future Challenges in Total Ionizing Dose for Advanced CMOS Technologies
    Guo, H. x.
    In: NUCLEAR ELECTRONICS AND DETECTION TECHNOLOGY, Jg. 31 (2011), Heft 1, S. 115-119
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Research on the Total Dose Irradiation and Annealing Effects of CMOS SRAM
    Li, M. s.
    In: NUCLEAR ELECTRONICS AND DETECTION TECHNOLOGY, Jg. 30 (2010), Heft 8, S. 1087-1091
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Electron-induced Damage of CMOS with Shielded Packages
    Wen, L.
    In: NUCLEAR ELECTRONICS AND DETECTION TECHNOLOGY, Jg. 28 (2009), Heft 2, S. 398-401
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Output Cell based on submicron CMOS Technology
    Wang, M. g.
    In: NUCLEAR ELECTRONICS AND DETECTION TECHNOLOGY, Jg. 28 (2008), Heft 6, S. 1215-1218
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Development of pulsed total dose effect in-circuit measuring system on CMOS sevices based on virtual instrument
    Luo, Y. h.
    In: NUCLEAR ELECTRONICS AND DETECTION TECHNOLOGY, Jg. 26 (2006), Heft 6, S. 942-946
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    A modified design method of noise optimization for CMOS charge sensitive preamplifier
    Deng, Z.
    In: NUCLEAR ELECTRONICS AND DETECTION TECHNOLOGY, Jg. 26 (2006), Heft 6, S. 801-804
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Investigation of the feasibility and methods of the CMOS devices pre-irradiation screening
    Li, A. w.
    In: NUCLEAR ELECTRONICS AND DETECTION TECHNOLOGY, Jg. 26 (2006), Heft 4, S. 470-473
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Test and research on estimating method of total dose irradiation at laboratory environment for CMOS space electronics
    He, B. p.
    In: NUCLEAR ELECTRONICS AND DETECTION TECHNOLOGY, Jg. 26 (2006), Heft 5, S. 656-659
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Initial study of pulsed gamma total dose effect in CMOS devices
    Luo, Y. h. ; Gong, J. c. ; et al.
    In: NUCLEAR ELECTRONICS AND DETECTION TECHNOLOGY, Jg. 24 (2004), Heft 6, S. 745-748
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    An analysis of latch-up characteristics and latch-up windows in CMOS integrated circuits
    Xu, X. g. ; Yang, H. m. ; et al.
    In: NUCLEAR ELECTRONICS AND DETECTION TECHNOLOGY, Jg. 24 (2004), Heft 6, S. 674-678
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Measurement of X-ray relative dose-enhancement factor for CMOS device using bi-laminate structure and its simulation
    Guo, H. x. ; Yu-sheng, C. ; et al.
    In: NUCLEAR ELECTRONICS AND DETECTION TECHNOLOGY, Jg. 22 (2002), Heft 1, S. 47-51
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Research of radiation effects on typical CMOS devices 54HC04 for space application by using the ^6^0Co source
    He, B. p. ; Zhang, Z. x. ; et al.
    In: ATOMIC ENERGY SCIENCE AND TECHNOLOGY, Jg. 34 (2000), Heft 4, S. 334-338
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    The ionizing radiation effects of SOS-CMOS devices
    Yu, X. ; Ren, D. ; et al.
    In: NUCLEAR ELECTRONICS AND DETECTION TECHNOLOGY, Jg. 17 (1997), Heft 3, S. 187-190
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Radiation effects of protons and ^5^0Co gamma rays on CMOS operational amplifier
    Lu, W. ; Ren, D. ; et al.
    In: NUCLEAR ELECTRONICS AND DETECTION TECHNOLOGY, Jg. 17 (1997), Heft 5, S. 370-373
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Single-partical effects and hardening of CMOS devices
    Song, Q.
    In: ATOMIC ENERGY SCIENCE AND TECHNOLOGY, Jg. 31 (1997), Heft 3, S. 250-257
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A High - Precision CMOS Peak Detect and Hold Circuit
    Lv, J. f.
    In: NUCLEAR ELECTRONICS AND DETECTION TECHNOLOGY, Jg. 31 (2011), Heft 9, S. 958-960
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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