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    Challenges and opportunities for LCOS devices in optical switching and networking (Invited Paper) [5649-23] : Smart structures, devices, and systems II
    Habibi, D. ; Moini, A. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2005, Heft PT 1, S. 162-170
    Konferenz
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    Reduction of crosstalk in a colourless multicasting LCOS-based wavelength selective switch by the application of wavefront encoding [8284-27] : Next-generation optical communication: components, sub-systems, and systems
    Robertson, B. ; Zhang, Z. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8284 (2012), S. 8284 0S
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Flicker reduction in an LCoS spatial light modulator [8011A-277] : International Commision for Optics: light for the development of the world
    Garcia-Marquez, J. ; Lopez-Padilla, E. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8011 (2011), Heft 2, S. 8011 2S
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Simple color sequential LCoS illumination system used for projection display [7749C-88] : international conference on display and photonics
    Gao, H. ; Liu, Q. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2010, Heft 7749, S. 7749 26
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Test results of optimal phase diversity selection using a LCOS-SLM for remote sensing adaptive optics [7723-07] : Optics, photonics, and digital technologies for multimedia applications
    Miyamura, N.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7723 (2010), S. 7723 08
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Advances in LCoS SLM characterization for improved optical performance in image processing [7000-69] : Optical and digital image processing
    Oton, J. ; Millan, M.S. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7000 (2008), S. 7000 1V
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Improved micro topography measurement by LCoS-based fringe projection and z-stitching [6995-26] : Optical micro and nanometrology in microsystems technology
    Schwab, X. ; Kohler, C. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6995 (2008), S. 6995 0Q
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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