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    Ionizing radiation effects on CMOS imagers manufactured in deep submicron process [6816-06] : Sensors, cameras, and systems for industrial/scientific applications IX
    Goiffon, V. ; Magnan, P. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6816 (2008), S. 6816 07- (2S.)
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Large-area stretchable sensors with integrating organic CMOS ICs with Si-CMOS LSIs (Invited Paper) [7779-07] : Organic semiconductors in sensors and bioelectronics
    Sekitani, T. ; Ishida, K. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7779 (2010), S. 7779 08
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Investigation of CMOS photodiodes integrated on an ASIC by a 0.5-μm analog CMOS process [7726-80] : Optical sensing and detection
    Luo, H. ; Ricklefs, U. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7726 (2010), S. 7726 24
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Real-time video rate imaging with a 1k-pixel THz CMOS focal plane array [8362-11] : Passive and active millimeter-wave imaging
    Grzyb, J. ; Sherry, H. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8362 (2012), S. 8362 0C
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Precise and effective fixed-pattern correction for logarithmic high dynamic range CMOS image sensors achieving low noise equivalent contrast over illumination [8436-16] : Optics, photonics, and digital technologies for multimedia applications
    Strobel, M.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8436 (2012), S. 8436 0H
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A diode-based bolometer implemented on micromachined CMOS technology for terahertz radiation detection [8431-64] : Silicon photonics and photonic integrated circuits
    Perenzoni, M. ; Domingues, S.
    In: PROCEEDINGS-SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8431 (2012), S. 8431 1T
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    New integration concept of PIN photodiodes in 0.35μm CMOS technologies [8431-40] : Silicon photonics and photonic integrated circuits
    Jonak-Auer, I. ; Teva, J. ; et al.
    In: PROCEEDINGS-SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8431 (2012), S. 8431 15
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    CMOS-compatible electro-optical Mach-Zehnder modulator based on the amorphous silicon technology [8431-29] : Silicon photonics and photonic integrated circuits
    Rao, S. ; Coppola, G. ; et al.
    In: PROCEEDINGS-SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8431 (2012), S. 8431 0U
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    CMOS photonics for optical manipulation of particles and biosensing (Invited Paper) [8431-25] : Silicon photonics and photonic integrated circuits
    Poon, A.W. ; Cai, H.
    In: PROCEEDINGS-SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8431 (2012), S. 8431 0Q
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Pattern density multiplication by direct self assembly of block copolymers: towards 300mm CMOS requirements [8323-23] : Alternative lithographic technologies
    Tiron, R. ; Chevalier, X. ; et al.
    In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8323 (2012), S. 8323 0O
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    25Gbit/s fully CMOS-compatible silicon modulator based on interleaved PN junctions [8333-56] : Photonics and optoelectronics; Optoelectronic devices and integration; POEM 2011
    Xiao, X. ; Hu, Y. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8333 (2012), S. 8333 0I
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    CMOS compatible silicon-based Mach-Zehnder optical modulators with improved extinction ratio [8333-31] : Photonics and optoelectronics; Optoelectronic devices and integration; POEM 2011
    Li, Z. ; Zhou, L. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8333 (2012), S. 8333 05
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Hybrid backside illuminated CMOS image sensors possessing low crosstalk [8176-50] : Sensors, systems, and next-generation satellites
    Rao, P.R. ; De Munck, K. ; et al.
    In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8176 (2011), S. 8176 1D
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Recent developments of multispectral filter assemblies for CCD, CMOS and bolometer [8176-45] : Sensors, systems, and next-generation satellites
    Le Goff, R. ; Badoil, B. ; et al.
    In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8176 (2011), S. 8176 18
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    IR CMOS: ultrafast laser-enhanced silicon detection [8012-62] : Infrared technology and applications
    Pralle, M.U. ; Carey, J.E. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8012 (2011), Heft 1, S. 8012 22
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Scale down of p-n junction diodes of an uncooled IR-FPA for improvement of the sensitivity and thermal time response by 0.13-μm CMOS technology [8012-47] : Infrared technology and applications
    Fujiwara, I. ; Sasaki, K. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8012 (2011), Heft 1, S. 8012 1G
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A high fill-factor high-SNR CMOS image sensor for IR camera applications [8012-125] : Infrared technology and applications
    Shenoy, V. ; McBride, D. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8012 (2011), Heft 1, S. 8012 0J
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Automatic laser alignment for multifocal microscopy using a LCOS SLM and a 32x32 pixel CMOS SPAD array : Advanced microscopy techniques
    Tyndall, D. ; Walker, R. ; et al.
    In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8086 (2011), S. 8086 0S
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Evaluation of MOBILE-based gate-level pipelining augmenting CMOS with RTDs [8067-28] : VLSI circuits and systems
    Nunez, J. ; Avedillo, M.J. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2011, Heft 8067, S. 8067 0Z
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A CMOS integrated cell adhesion sensor for lab-on-a-chip applications [8068A-32] : Bioelectronics, biomedical, and bioinspired systems
    Mucha, A. ; Bohrn, U. ; et al.
    In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8068 (2011), S. 8068 0U
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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