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    0.13μm CMOS technologies for analog front-end circuits in LHC detector upgrades
    MANGHISONI, Massimo ; RE, Valerio ; et al.
    2005
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    MAPS in 130 nm triple well CMOS technology for HEP applications
    MANGHISONI, Massimo ; RE, Valerio ; et al.
    2007
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Low noise design issues for analog front-end electronics in 130 nm and 90 nm CMOS technologies
    MANGHISONI, Massimo ; RE, Valerio ; et al.
    2007
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    MAPS in 130 nm triple well CMOS technology for HEP applications
    Pozzati, E. ; Manghisoni, M. ; et al.
    2007
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Low-noise design issues for analog front-end electronics in 130 nm and 90 nm CMOS technologies
    Manghisoni, M. ; Re, V. ; et al.
    2007
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    0.13 um CMOS technologies for radiation hardness analog front-end circuits in LHC upgrades
    Re, V. ; Manghisoni, M. ; et al.
    2005
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Front-end Electronics for Silicon Trackers readout in Deep Sub-Micron CMOS Technology: The case of Silicon strips at the ILC.
    Genat, J.F. ; Dhellot, M. ; et al.
    In: 12th Workshop on Electronics For LHC and Future Experiments LECC 2006 ; https://hal.in2p3.fr/in2p3-00142600 ; 12th Workshop on Electronics For LHC and Future Experiments LECC 2006, Sep 2006, Valence, Spain. pp.249-252, 2006
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Front-end Electronics for Silicon Trackers readout in Deep Sub-Micron CMOS Technology: The case of Silicon strips at the ILC.
    Genat, J.F. ; Dhellot, M. ; et al.
    In: 12th Workshop on Electronics For LHC and Future Experiments LECC 2006 ; https://hal.in2p3.fr/in2p3-00142600 ; 12th Workshop on Electronics For LHC and Future Experiments LECC 2006, Sep 2006, Valence, Spain. pp.249-252, 2006
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Front-end Electronics for Silicon Trackers readout in Deep Sub-Micron CMOS Technology: The case of Silicon strips at the ILC.
    Genat, J.F. ; Dhellot, M. ; et al.
    In: 12th Workshop on Electronics For LHC and Future Experiments LECC 2006 ; https://hal.in2p3.fr/in2p3-00142600 ; 12th Workshop on Electronics For LHC and Future Experiments LECC 2006, Sep 2006, Valence, Spain. pp.249-252, 2006
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Front-end Electronics for Silicon Trackers readout in Deep Sub-Micron CMOS Technology: The case of Silicon strips at the ILC.
    Genat, J.F. ; Dhellot, M. ; et al.
    In: 12th Workshop on Electronics For LHC and Future Experiments LECC 2006 ; https://hal.in2p3.fr/in2p3-00142600 ; 12th Workshop on Electronics For LHC and Future Experiments LECC 2006, Sep 2006, Valence, Spain. pp.249-252, 2006
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Front-end Electronics for Silicon Trackers readout in Deep Sub-Micron CMOS Technology: The case of Silicon strips at the ILC.
    Genat, J.F. ; Dhellot, M. ; et al.
    In: 12th Workshop on Electronics For LHC and Future Experiments LECC 2006 ; https://hal.in2p3.fr/in2p3-00142600 ; 12th Workshop on Electronics For LHC and Future Experiments LECC 2006, Sep 2006, Valence, Spain. pp.249-252, 2006
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Front-end Electronics for Silicon Trackers readout in Deep Sub-Micron CMOS Technology: The case of Silicon strips at the ILC.
    Genat, J.F. ; Dhellot, M. ; et al.
    In: 12th Workshop on Electronics For LHC and Future Experiments LECC 2006 ; http://hal.in2p3.fr/in2p3-00142600 ; 12th Workshop on Electronics For LHC and Future Experiments LECC 2006, Sep 2006, Valence, Spain. pp.249-252, 2006
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Instrumentation for gate current noise measurements on sub-100 nm MOS transistors
    Gaioni, L. ; Manghisoni, M. ; et al.
    2008
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Design of a very low power 12 bits 40 MS/s ADC based on a time-interleaved SAR architecture
    Bontems, William ; Dzahini, Daniel ; et al.
    In: Topical Workshop on Electronics for Particle Physics (TWEPP 2023) ; https://hal.science/hal-04261027 ; CERN. Topical Workshop on Electronics for Particle Physics (TWEPP 2023), Oct 2023, Geremeas (Sardinia), Italy. CERN ; CERNLink, 2023
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A low power and low signal 4 bit 50MS/s double sampling pipelined ADC for Monolithic Active Pixel Sensors
    Dahoumane, M. ; Dzahini, Daniel ; et al.
    In: Proceedings of the TWEPP-07 ; Topical Workshop on Electronics for Particle Physics (TWEPP-07) ; https://hal.in2p3.fr/in2p3-00186598 ; Topical Workshop on Electronics for Particle Physics (TWEPP-07), Sep 2007, Prague, Czech Republic. pp.326-331, 2007
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A low power and low signal 4 bit 50MS/s double sampling pipelined ADC for Monolithic Active Pixel Sensors
    Dahoumane, M. ; Dzahini, Daniel ; et al.
    In: Proceedings of the TWEPP-07 ; Topical Workshop on Electronics for Particle Physics (TWEPP-07) ; https://hal.in2p3.fr/in2p3-00186598 ; Topical Workshop on Electronics for Particle Physics (TWEPP-07), Sep 2007, Prague, Czech Republic. pp.326-331, 2007
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A low power and low signal 4 bit 50MS/s double sampling pipelined ADC for Monolithic Active Pixel Sensors
    Dahoumane, M. ; Dzahini, Daniel ; et al.
    In: Proceedings of the TWEPP-07 ; Topical Workshop on Electronics for Particle Physics (TWEPP-07) ; http://hal.in2p3.fr/in2p3-00186598 ; Topical Workshop on Electronics for Particle Physics (TWEPP-07), Sep 2007, Prague, Czech Republic. pp.326-331, 2007
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Instrumentation for gate current noise measurements on sub-100 nm MOS transistors
    GAIONI, Luigi ; MANGHISONI, Massimo ; et al.
    2008
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    DIRAC v2: a DIgital Readout Asic for hadronic Calorimeter
    Gaglione, R. ; Adloff, C. ; et al.
    In: Proceedings of the Topical Workshop on Electronics for Particle Physics TWEPP-09 ; Topical Workshop on Electronics for Particle Physics (TWEPP-09) ; https://hal.in2p3.fr/in2p3-00420247 ; Topical Workshop on Electronics for Particle Physics (TWEPP-09), Sep 2009, Paris, France. pp.117-121, 2009
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    DIRAC v2: a DIgital Readout Asic for hadronic Calorimeter
    Gaglione, R. ; Adloff, C. ; et al.
    In: Proceedings of the Topical Workshop on Electronics for Particle Physics TWEPP-09 ; Topical Workshop on Electronics for Particle Physics (TWEPP-09) ; https://hal.in2p3.fr/in2p3-00420247 ; Topical Workshop on Electronics for Particle Physics (TWEPP-09), Sep 2009, Paris, France. pp.117-121, 2009
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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