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    FeReX: A Reconfigurable Design of Multi-Bit Ferroelectric Compute-in-Memory for Nearest Neighbor Search
    Xu, Zhicheng ; Liu, Che-Kai ; et al.
    In: 2024 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2024-03-25, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    HDGIM: Hyperdimensional Genome Sequence Matching on Unreliable highly scaled FeFET
    Barkam, Hamza Errahmouni ; Yun, Sanggeon ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Adaptive Droplet Routing for MEDA Biochips via Deep Reinforcement Learning
    Elfar, Mahmoud ; Liang, Tung-Che ; et al.
    In: 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022-03-14, S. 640-645
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Formal Synthesis of Adaptive Droplet Routing for MEDA Biochips
    Elfar, Mahmoud ; Liang, Tung-Che ; et al.
    In: 2021 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2021-02-01, S. 324-329
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Embedding Hierarchical Signal to Siamese Network for Fast Name Rectification
    Chen, Yi-An ; Pan, Gung-Yu ; et al.
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 891-896
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    GraphRSim: A Joint Device-Algorithm Reliability Analysis for ReRAM-based Graph Processing
    Nien, Chin-Fu ; Hsiao, Yi-Jou ; et al.
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 1478-1483
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Resource-aware functional ECO patch generation
    Cheng, An-Che ; Jiang, Iris Hui-Ru ; et al.
    In: 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2016-03-01, S. 1036-1041
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    May-happen-in-parallel analysis of ESL models using UPPAAL model checking
    Chang, Che-Wei ; Domer, Rainer
    In: 2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2015-03-01, S. 1567-1570
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    One Fault is All it Needs: Breaking Higher-Order Masking with Persistent Fault Analysis
    Pan, Jingyu ; Zhang, Fan ; et al.
    In: 2019 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2019-03-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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