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    COMPACT: Co-processor for Multi-mode Precision-adjustable Non-linear Activation Functions
    Ou, Wenhui ; Wu, Zhuoyu ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Konferenz
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    Hierarchical Non-Structured Pruning for Computing-In-Memory Accelerators with Reduced ADC Resolution Requirement
    Xue, Wenlu ; Bai, Jinyu ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Non-Profiled Side-Channel Assisted Fault Attack: A Case Study on DOMREP
    Saha, Sayandeep ; Ravi, Prasanna ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Examining and Mitigating the Impact of Crossbar Non-idealities for Accurate Implementation of Sparse Deep Neural Networks
    Bhattacharjee, Abhiroop ; Bhatnagar, Lakshya ; et al.
    In: 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022-03-14, S. 1119-1122
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Emulation of Non-volatile Digital Logic for Batteryless Intermittent Computing
    Ruffini, Simone ; Yildirim, Kasim Sinan ; et al.
    In: 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022-03-14, S. 927-932
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Scalable Hardware Acceleration of Non-Maximum Suppression
    Chen, Chunyun ; Zhang, Tianyi ; et al.
    In: 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022-03-14, S. 96-99
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    REH: Redesigning Extendible Hashing for Commercial Non-Volatile Memory
    Li, Zhengtao ; Tan, Zhipeng ; et al.
    In: 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022-03-14, S. 742-747
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Non-Volatile Phase Change Material based Nanophotonic Interconnect
    Zolfaghari, Parya ; Ortiz, Joel ; et al.
    In: 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022-03-14, S. 1053-1058
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    SafeDM: a Hardware Diversity Monitor for Redundant Execution on Non-Lockstepped Cores
    Bas, Francisco ; Benedicte, Pedro ; et al.
    In: 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022-03-14, S. 358-363
    Online Konferenz
    Zugriff:
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Revisiting Persistent Hash Table Design for Commercial Non-Volatile Memory
    Huang, Kaixin ; Yan, Yan ; et al.
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 708-713
    Online Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    On the Performance of Non-Profiled Differential Deep Learning Attacks against an AES Encryption Algorithm Protected using a Correlated Noise Generation based Hiding Countermeasure
    Alipour, Amir ; Papadimitriou, Athanasios ; et al.
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 614-617
    Online Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Floating Random Walk Based Capacitance Solver for VLSI Structures with Non-Stratified Dielectrics
    Song, Mingye ; Yang, Ming ; et al.
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 1133-1138
    Online Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Towards Non-intrusive Malware Detection for Industrial Control Systems
    Narayan Rajput, Prashant Hari ; Maniatakos, Michail
    In: 2021 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2021-02-01, S. 1703-1706
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A FeRAM based Volatile/Non-volatile Dual-mode Buffer Memory for Deep Neural Network Training
    Luo, Yandong ; Luc, Yuan-Chun ; et al.
    In: 2021 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2021-02-01, S. 1871-1876
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Non-Intrusive Self-Test Library for Automotive Critical Applications: Constraints and Solutions
    Bernardi, P. ; Cantoro, R. ; et al.
    In: 2019 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2019-03-01, S. 920-923
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    DeepNVM: A Framework for Modeling and Analysis of Non-Volatile Memory Technologies for Deep Learning Applications
    Inci, Ahmet Fatih ; Meric Isgenc, Mehmet ; et al.
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 1295-1298
    Online Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Silicon Photonic Microring Resonators: Design Optimization Under Fabrication Non-Uniformity
    Mirza, Asif ; Sunny, Febin ; et al.
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 484-489
    Online Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Fault Diagnosis of Via-Switch Crossbar in Non-volatile FPGA
    Doi, Ryutaro ; Bai, Xu ; et al.
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 983-986
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A Non-invasive Wearable Bioimpedance System to Wirelessly Monitor Bladder Filling
    Reichmuth, Markus ; Schurle, Simone ; et al.
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 338-341
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Hybrid VC-MTJ/CMOS non-volatile stochastic logic for efficient computing
    Wang, Shaodi ; Pal, Saptadeep ; et al.
    In: Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017, 2017-03-01, S. 1438-1443
    Konferenz
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