Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
30 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Publikation

30 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Suspect set prediction in RTL bug hunting
    Veira, Neil ; Poulos, Zissis ; et al.
    In: 2018 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2018-03-01, S. 1544-1549
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Automatic detection of concurrency bugs through event ordering constraints
    Murillo, Luis Gabriel ; Wawroschek, Simon ; et al.
    In: 2014 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2014-03-01, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    STSearch: State Tracing-based Search Heuristics for RTL Validation
    Zheng, Ziyue ; Lyu, Yangdi
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Analog Coverage-driven Selection of Simulation Corners for AMS Integrated Circuits
    Sanyal, Sayandeep ; Hazra, Aritra ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Processor Verification using Symbolic Execution: A RISC-V Case-Study
    Bruns, Niklas ; Herdt, Vladimir ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    An Automated Verification Framework for HalideIR-Based Compiler Transformations
    Wang, Yanzhao ; Xie, Fei ; et al.
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Cross-Level Processor Verification via Endless Randomized Instruction Stream Generation with Coverage-guided Aging
    Bruns, Niklas ; Herdt, Vladimir ; et al.
    In: 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022-03-14, S. 1123-1126
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Divide and Verify: Using a Divide-and-Conquer Strategy for Polynomial Formal Verification of Complex Circuits
    Drechsler, Rolf ; Mahzoon, Alireza
    In: 2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023-04-01, S. 1-2
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    System Level Verification of Phase-Locked Loop using Metamorphic Relations
    Hassan, Muhammad ; GroBe, Daniel ; et al.
    In: 2021 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2021-02-01, S. 1378-1381
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Post-Silicon Validation of the IBM POWER9 Processor
    Kolan, Tom ; Mendelson, Hillel ; et al.
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 999-1002
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Post Silicon Validation of the MMU
    Kolan, Tom ; Mendelson, Hillel ; et al.
    In: 2021 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2021-02-01, S. 212-217
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Leveraging Processor Modeling and Verification for General Hardware Modules
    Xing, Yue ; Lu, Huaixi ; et al.
    In: 2021 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2021-02-01, S. 1130-1135
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Gap-free Processor Verification by S2QED and Property Generation
    Devarajegowda, Keerthikumara ; Fadiheh, Mohammad Rahmani ; et al.
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 526-531
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Symbolic quick error detection using symbolic initial state for pre-silicon verification
    Fadiheh, Mohammad Rahmani ; Urdahl, Joakim ; et al.
    In: 2018 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2018-03-01, S. 55-60
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    ExplFrame: Exploiting Page Frame Cache for Fault Analysis of Block Ciphers
    Chakraborty, Anirban ; Bhattacharya, Sarani ; et al.
    In: 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020-03-01, S. 1303-1306
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    BISCC: Efficient pre through post silicon validation of mixed-signal/RF systems using built in state consistency checking
    Deyati, Sabyasachi ; Muldrey, Barry ; et al.
    In: Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017, 2017-03-01, S. 274-277
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Incremental Online Verification of Dynamic Cyber-Physical Systems
    Bu, Lei ; Xing, Shaopeng ; et al.
    In: 2019 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2019-03-01, S. 782-787
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Correct runtime operation for NoCs through adaptive-region protection
    Abdel-Khalek, Rawan ; Bertacco, Valeria
    In: 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2016-03-01, S. 1189-1194
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Automated test generation for Debugging arithmetic circuits
    Farahmandi, Farimah ; Mishra, Prabhat
    In: 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2016-03-01, S. 1351-1356
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Evaluation of diverse compiling for software-fault detection
    Holler, Andrea ; Kajtazovic, Nermin ; et al.
    In: 2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2015-03-01, S. 531-536
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -