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    Analysis of Process Influence on HSQ Dielectric and Impact on CMOS Circuit Performance
    Lair, C. ; Froment, B. ; et al.
    In: 29th European Solid-State Device Research Conference, Jg. 1 (1999), S. 264-267
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Gate Stack Optimisation for Advanced CMOS Process
    Kubicek, S. ; Vandenberghe, G. ; et al.
    In: 29th European Solid-State Device Research Conference, Jg. 1 (1999), S. 412-415
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Arsenic and Phosphorus co-Implantation for Deep Submicron CMOS Gate and Source/Drain Engineering
    Augendre, E. ; De Keersgieter, A. ; et al.
    In: 31st European Solid-State Device Research Conference, 2001, S. 115-118
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    EP120: A 0.35um, 3V/5V, Mixed-Signal/RF BiCMOS Technology
    Doyle, D. ; Moloney, K. ; et al.
    In: 30th European Solid-State Device Research Conference, 2000, S. 580-583
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Embedded DRAM Technologies
    Takato, H.
    In: 30th European Solid-State Device Research Conference, 2000, S. 13-18
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    FeRAM Technology
    Mazure, C.
    In: 30th European Solid-State Device Research Conference, 2000, S. 64-67
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    A 0.72 um Smart Power Technology using Non-Self-Aligned DMOS and Up/down-diffused HV Wells
    Gregory, H.J. ; Sadovnikov, A. ; et al.
    In: 28th European Solid-State Device Research Conference, 1998, S. 384-387
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Gate polysilicon optimization for deep-submicron MOSFETs
    Schmitz, J. ; Tuinhout, H.P. ; et al.
    In: 29th European Solid-State Device Research Conference, Jg. 1 (1999), S. 156-159
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Reliability Issues of Through-the-Gate-Implanted Utra-Thin Gate Oxides
    Grunsfelder, C. ; Kerber, M. ; et al.
    In: 29th European Solid-State Device Research Conference, Jg. 1 (1999), S. 360-363
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Enhanced Breakdown Voltage and Charge to Breakdown of Collector Implant-Gate Oxide-Poly Capacitors by Selective Epitaxial Growth
    Leipold, D. ; Hechtl, Ch. ; et al.
    In: 27th European Solid-State Device Research Conference, 1997, S. 568-571
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A cost effective smart power technology for 45V applications
    Marty-Blavier, A. ; Farenc, D. ; et al.
    In: 27th European Solid-State Device Research Conference, 1997, S. 740-743
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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