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    Stokes CMOS polarimetry limits studied at non-classical polarisation states
    Eva, Roiková ; Štěpán, Kunc
    In: EPJ Web of Conferences, Jg. 266 (2022), S. 10016-10016
    Online academicJournal
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    Volltext (PDF)
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    Radiation Tolerant, Low Noise Phase Locked Loops in 65 nm CMOS Technology
    Jeffrey, Prinzie ; Jorgen, Christiansen ; et al.
    In: EPJ Web of Conferences, Jg. 170 (2018), S. 01021-1021
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    CCD or CMOS camera noise characterisation
    REIBEL, Y ; JUNG, M ; et al.
    In: EPJ. Applied physics (Print), Jg. 21 (2003), Heft 1, S. 75-80
    academicJournal
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    Optimizing the CMOS Sensor-Mode for Extreme Linear Dynamic Range MEMS-based CAOS Smart Camera Imaging
    Riza Nabeel A. ; Nazim, Ashraf ; et al.
    In: EPJ Web of Conferences, Jg. 238 (2020), S. 12007-12007
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Optimizing the CMOS Sensor-Mode for Extreme Linear Dynamic Range MEMS-based CAOS Smart Camera Imaging
    Mazhar, Mohsin A. ; Ashraf, Nazim ; et al.
    In: EPJ Web of Conferences, Jg. 238 (2020)
    Online unknown
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    Volltext (PDF)
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    Counting neutrons with a commercial S-CMOS camera
    Patrick Van Esch ; Mutti, Paolo ; et al.
    In: EPJ Web of Conferences, Jg. 170 (2018), S. 01018-1018
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    New silicon devices beyond CMOS
    SUZUKI, E ; ISHII, K ; et al.
    In: Proceedings of the 5th European Workshop on Low Temperature Electronics: WOLTE 5, June 19-21, 2002, Grenoble, France, Jg. 94 (2002), S. 3.27
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A new p+-i-n+ photodiode SPICE model for CMOS pixel applications
    NEGRU, R ; BONNASSIEUX, Y ; et al.
    In: EPJ. Applied physics (Print), Jg. 41 (2008), Heft 3, S. 205-213
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Design and characterization of high voltage devices integrated in a standard CMOS technology
    VILLARD, B ; CALMON, F ; et al.
    In: EPJ. Applied physics (Print), Jg. 16 (2001), Heft 2, S. 113-120
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Development of large and fast cmos aps cameras at latt
    Beigbeder, F. ; Meunier, N. ; et al.
    In: EAS Publications Series, Jg. 37 (2009), S. 301-306
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Counting neutrons with a commercial S-CMOS camera
    Jon, Ortega ; Paolo, Mutti ; et al.
    In: EPJ Web of Conferences, Jg. 170 (2018), S. 01018-1018
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Simulation toolkit with CMOS detector in the framework of hadrontherapy
    Rescigno, R. ; Ch., Finck ; et al.
    In: EPJ Web of Conferences, Jg. 66 (2014-03-01), S. 10013-10013
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Parasitic conduction in a 0.13 μm CMOS technology at low temperature
    MERCHA, A ; RAFI, J. M ; et al.
    In: Proceedings of the 5th European Workshop on Low Temperature Electronics: WOLTE 5, June 19-21, 2002, Grenoble, France, Jg. 94 (2002), S. 3.61
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A 4.2 K readout channel in a standard 0.7 μm CMOS process for a photoconductor array camera
    CRETEN, Y ; CHARLIER, O ; et al.
    In: Proceedings of the 5th European Workshop on Low Temperature Electronics: WOLTE 5, June 19-21, 2002, Grenoble, France, Jg. 94 (2002), S. 3.203
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    CMO: modélisation, identification, calcul de structures et fiabilités / Organic matrix composite: modeling, identification , calculation of structures and reliabilities
    BOUBAKAR, M. L ; PERREUX, D ; et al.
    In: 40e Anniversaire du Laboratoire de Mécanique Appliquée R. Chaléat : 1er Colloque Interaction Modèle Expérien ce, Jg. 102 (2002), S. Pr11.227
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Demonstration of an 4.2 K analog switch matrix in a standard 0.7 μ CMOS process
    CRETEN, Y ; DE HERT, J ; et al.
    In: Proceedings of the 5th European Workshop on Low Temperature Electronics: WOLTE 5, June 19-21, 2002, Grenoble, France, Jg. 94 (2002), S. 3.211
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Development of an integrated CMOS detector for radon activity measurement and neutron dosimetry
    Husson, D. ; Higueret, S. ; et al.
    In: ND2007, 2007
    Online unknown
    Zugriff:
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Simulation toolkit with CMOS detector in the framework of hadrontherapy
    Krimmer, J. ; Juliani, D. ; et al.
    In: EPJ Web of Conferences, Jg. 66 (2014), S. 10013-10013
    Online unknown
    Zugriff:
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Variability of multilevel switching in scaled hybrid RS/CMOS nanoelectronic circuits: theory
    Heittmann, Arne ; Noll, Tobias G.
    In: The European Physical Journal Applied Physics, Jg. 63 (2013-07-01), S. 14404-14404
    Online unknown
    Zugriff:
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    CMO : modélisation, identification, calcul de structures et fiabilités
    Thiébaud, F. ; Trivaudey, Frédérique ; et al.
    In: Journal de Physique IV (Proceedings), Jg. 12 (2002-12-01), S. 227-234
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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