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  1. KUSHNER, V. A ; YANG, J ; et al.
    In: Silicon materials science and technology X (Denver CO, 7-12 May 2006), 2006, S. 491-502
    Konferenz
  2. OOTSUKA, F ; MINEJI, A ; et al.
    In: ULSI process integration IV (Quebec PQ, 16-20 May 2005), 2005, S. 111-117
    Konferenz
  3. REICHE, M ; RADU, I ; et al.
    In: Semiconductor wafer bonding VIII : science, technology, and applications (Quebec PQ, 15-20 May 2005), 2005, S. 326-337
    Konferenz
  4. KONDO, S ; YOON, B. U ; et al.
    In: ULSI process integration IV (Quebec PQ, 16-20 May 2005), 2005, S. 385-394
    Konferenz
  5. GRILL, Alfred ; NEUMAYER, Deborah A
    In: Dielectrics in emerging technologies (Paris, 27 April - 2 May 2003), 2003, S. 315-322
    Konferenz
  6. ZHU, J. G ; YANG, X. L ; et al.
    In: Silicon materials science and technology X (Denver CO, 7-12 May 2006), 2006, S. 401-409
    Konferenz
  7. CLAEYS, C ; SIMOEN, E ; et al.
    In: Dielectrics for nanosystems II (materials science, processing, reliability, and manufacturing), 2006, S. 287-300
    Konferenz
  8. SHIM, Cheonman ; LIM, Hyun-Ju ; et al.
    In: Dielectrics for nanosystems II (materials science, processing, reliability, and manufacturing), 2006, S. 243-252
    Konferenz
  9. HIRANO, Yuuichi ; IPPOSHI, Takashi ; et al.
    In: Dielectrics for nanosystems : materials science, processing, reliability, and manufacturing (Honolulu HI, 3-8 October 2004), 2004, S. 60-64
    Konferenz
  10. KAO, Ming-Yih ; HEINS, Matthew S ; et al.
    In: State-of-the-art program on compound semiconductors XLI, 2004, S. 24-34
    Konferenz
  11. SIMOEN, E ; ENEMAN, G ; et al.
    In: ULSI process integration IV (Quebec PQ, 16-20 May 2005), 2005, S. 349-359
    Konferenz
  12. CHUNG FOONG, TAN ; LEE, Hyeokjae ; et al.
    In: Advanced gate stack, source/drain and channel engineering for Si-based CMOS : naw materials, processes, 2005, S. 554-561
    Konferenz
  13. IWAMOTO, Toshiyuki ; OGURA, Takashi ; et al.
    In: ULSI process integration IV (Quebec PQ, 16-20 May 2005), 2005, S. 143-154
    Konferenz
  14. TERREAULT, B ; CHICOINE, M ; et al.
    In: Silicon-on-insulator technology and devices XII (Quebec PQ, 15-20 May 2005), 2005, S. 155-166
    Konferenz
  15. KRISHNAMOORTHY, Ahila ; RAMANA MURTHY, B ; et al.
    In: Copper interconnects, new contact metallurgies/structures, and low-k interlevel dielectrics II (Orlando FL, 12-17 October 2003), 2003, S. 232-236
    Konferenz
  16. RAMANA MURTHY, B ; CHEN, Y. W ; et al.
    In: Copper interconnects, new contact metallurgies/structures, and low-k interlevel dielectrics II (Orlando FL, 12-17 October 2003), 2003, S. 195-203
    Konferenz
  17. SENZI, LI ; OSTROWSKI, Kirk ; et al.
    In: Copper interconnects, new contact metallurgies/structures, and low-k interlevel dielectrics II (Orlando FL, 12-17 October 2003), 2003, S. 224-231
    Konferenz
  18. TSENG, Wei-Tsu ; SAKAMOTO, Akihisa ; et al.
    In: Dielectrics for nanosystems II (materials science, processing, reliability, and manufacturing), 2006, S. 227-236
    Konferenz
  19. OGURA, T ; SAITOH, M ; et al.
    In: Dielectrics for nanosystems II (materials science, processing, reliability, and manufacturing), 2006, S. 301-309
    Konferenz
  20. MAGNO, R ; BOOS, J. B ; et al.
    In: State of the art program on compound semiconductors XL, 2004, S. 191-204
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
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