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In: Solid-state electronics, Jg. 53 (2009), Heft 9, S. 931-934academicJournalZugriff:
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In: ISSN: 0924-4247 ; EISSN: 1873-3069, 2018Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 2, S. 397-403academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 12, S. 1698-1704academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 6, S. 897-904academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 40 (2009), Heft 6, S. 881-886academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics and reliability, Jg. 51 (2011), Heft 12, S. 2351-2356academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 6, S. 897-902academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 41 (2010), Heft 12, S. 815-819academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics and reliability, Jg. 52 (2012), Heft 11, S. 2655-2659academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 42 (2011), Heft 2, S. 330-333academicJournalZugriff:
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In: Ain Shams Engineering Journal, Jg. 11 (2020-06-01), Heft 2, S. 265-272Online unknownZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 39 (2008), Heft 12, S. 1687-1692academicJournalZugriff:
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In: Engineering Science and Technology, Jg. 22 (2019-08-01), Heft 4, S. 1077-1086Online unknownZugriff:
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In: Expert systems with applications, Jg. 41 (2014), Heft 2, S. 622-634academicJournalZugriff:
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In: AMF/RF[AMS/RF] CMOS Circuit Design for Wireless Transceivers, Jg. 42 (2009), Heft 1, S. 24-33academicJournalZugriff: