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    Quantification of a Ti(C<subscript> x </subscript>N<subscript>1−x </subscript>) based multilayer by Auger Electron Spectroscopy
    Guillot, J. ; Wirtz, T. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 256 (2009-11-15), Heft 3, S. 773-778
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    The characterisation of non-evaporable getters by Auger electron spectroscopy: analytical potential and artefacts
    Prodromides, A.E. ; Scheuerlein, C. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 191 (2002-05-17), Heft 1-4, S. 300-312
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Slow oxidation kinetics in an epitaxial copper(1 0 0) film.
    Timalsina, Yukta P. ; Washington, Morris ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 363 (2016-02-15), S. 209-216
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Ion beam induced chemical and morphological changes in TiO2 films deposited on Si(1 1 1) surface by pulsed laser deposition.
    Mohanta, R.R. ; Medicherla, V.R.R. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 325 (2015-01-15), S. 185-191
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Quantification of a Ti(C.sub.x N.sub.1-x ) based multilayer by Auger Electron Spectroscopy
    Guillot, J. ; Wirtz, T. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 256 (2009-11-15), Heft 3, S. 773-778
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Chemical reaction of sputtered Cu film with PI modified by low energy reactive atomic beam.
    Park, Jong-Yong ; Jung, Yeon-Sik ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 252 (2006-06-15), Heft 16, S. 5877-5891
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    High-temperature Auger electron spectroscopy of Zircaloy-4
    Stojilovic, N. ; Bender, E.T. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 252 (2005-12-15), Heft 5, S. 1806-1811
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Adhesion and interface chemical reactions of Cu/polyimide and Cu/TiN by XPS
    Lee, Won-Jun ; Lee, Youn-Seoung ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 205 (2002-01-31), Heft 1-4, S. 128-136
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Auger electron spectroscopy measurement of electron attenuation lengths using multilayer systems
    Suzuki, M. ; Mogi, K. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 100-101 (1996-07-02), S. 51-55
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Local atomic structure of the GaN-side of the Al2O3/GaN interface revealed by X-ray absorption spectroscopy.
    Isomura, Noritake ; Kikuta, Daigo ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 515 (2020-06-15), S. N.PAG
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    XPS characterization of transition metal oxalates.
    Chenakin, Sergey ; Kruse, Norbert
    In: Applied Surface Science, Jg. 515 (2020-06-15), S. N.PAG
    academicJournal
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    Is gold always chemically passive?
    Aufray, MaA'Lenn ; Roche, Alain Andre
    In: Applied Surface Science, Jg. 254 (2008-01-30), Heft 7, S. 1936-1941
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Chemical reaction of sputtered Cu film with PI modified by low energy reactive atomic beam
    Park, Jong-Yong ; Jung, Yeon-Sik ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 252 (2006-06-15), Heft 16, S. 5877-5891
    academicJournal
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    Determination of the interface region in multilayerSi/Moby Auger depth profile and factor analysis
    Morohashi, T. ; Hoshi, T. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 100-101 (1996-07-02), S. 84-88
    academicJournal
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    Intrinsic Auger signal profiles derived by Monte Carlo analysis
    Ding, Z. J. ; Shimizu, R. ; et al.
    In: Applied Surface Science, Jg. 100-101 (1996-07-02), S. 15-19
    academicJournal
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