Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

UB Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Artikel & mehr
29 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Publikation

Sprache

29 Treffer

Sortierung: 
  1. Nomura, M.
    In: Current Trends and Future Developments on (Bio-) Membranes; (2017) S. 25-43
    Buch
  2. Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    Buch
  3. McCurdy, Richard J.
    In: Coatings on Glass 1998; (1999) S. 100-106
    Buch
  4. Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    Buch
  5. SEDGWICK, T.O. ; SMITH, J.E., Jr. ; et al.
    In: Vapour Growth and Epitaxy; (1975) S. 264-273
    Buch
  6. Licoppe, C. ; Debauche, C.
    In: Semiconductor Materials Analysis and Fabrication Process Control; (1993) S. 115-118
    Buch
  7. Shih, H.C. ; Sung, C.P. ; et al.
    In: Metallurgical Coatings and Thin Films 1992; (1992) S. 380-386
    Buch
  8. Skogsmo, J. ; Halvarsson, M. ; et al.
    In: Metallurgical Coatings and Thin Films 1992; (1992) S. 186-192
    Buch
  9. Shanov, V. ; Tabakoff, W. ; et al.
    In: Metallurgical Coatings and Thin Films 1992; (1992) S. 25-31
    Buch
  10. Murota, J. ; Kato, M. ; et al.
    In: Defect Control in Semiconductors; (1990) S. 1325-1329
    Buch
  11. YAMAMOTO, Shigeichi ; MIGITAKA, Masatoshi
    In: Defect Control in Semiconductors; (1990) S. 1157-1161
    Buch
  12. Buzhinskij, O.I. ; Opimach, I.V. ; et al.
    In: Fusion Technology 1996; (1997) S. 383-385
    Buch
  13. Cordier, C. ; Dehan, E. ; et al.
    In: C,H,N and O in Si and Characterization and Simulation of Materials and Processes; (1996) S. 30-34
    Buch
  14. Tosin, P. ; Lüthy, W. ; et al.
    In: Laser Ablation; (1996) S. 384-386
    Buch
  15. Aoyama, Tohru ; Suzuki, Tatsuya ; et al.
    In: Selected Topics in Group IV and II–VI Semiconductors; (1996) S. 323-326
    Buch
  16. Nayak, S. ; Savage, D.E. ; et al.
    In: Selected Topics in Group IV and II–VI Semiconductors; (1996) S. 168-171
    Buch
  17. Chollet, F. ; André, E. ; et al.
    In: Selected Topics in Group IV and II–VI Semiconductors; (1996) S. 161-167
    Buch
  18. Nakai, Hiroshi ; Kuwahara, Hajime ; et al.
    In: Ion Beam Processing of Materials and Deposition Processes of Protective Coatings; (1996) S. 280-283
    Buch
  19. Yoshida, Akihisa ; Deguchi, Masahiro ; et al.
    In: Ion Beam Processing of Materials and Deposition Processes of Protective Coatings; (1996) S. 248-251
    Buch
  20. Li, Chun-Zhong ; Hu, Li-Ming
    In: A Computations, Glassy Materials, Microgravity and Non-Destructive Testing; (1994) S. 543-546
    Buch
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -