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    The length of contracts and collusion
    Green, Richard ; Le Coq, Chloe
    In: International Journal of Industrial Organization, Jg. 28 (2010), Heft 1, S. 21-29
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Failure of a brittle layer on a ductile substrate: Nanoindentation experiments and FEM simulations.
    Rusinowicz, M. ; Parry, G. ; et al.
    In: Journal of the Mechanics & Physics of Solids, Jg. 163 (2022-06-01), S. N.PAG
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Renewable support and strategic pricing in electricity markets
    Bohland, Moritz ; Schwenen, Sebastian
    In: International Journal of Industrial Organization, Jg. 80 (2022)
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Theorem proof based gate level information flow tracking for hardware security verification
    Qin, Maoyuan ; Hu, Wei ; et al.
    In: Computers & Security, Jg. 85 (2019-08-01), S. 225
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Optimized allocation of defect inspection capacity with a dynamic sampling strategy
    Rodriguez-Verjan, Gloria Luz ; Dauzere-Peres, StePhane ; et al.
    In: Computers & Operations Research, Jg. 53 (2015), S. 319-327
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    View record from ScienceDirect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Net integrity checking by optical localization techniques
    Haller, G. ; Machouat, A. ; et al.
    In: Microelectronics and Reliability, Jg. 49 (2009-09-01), Heft 9-11, S. 1175-1181
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    In search of an optimal cost of quality: an integrated framework of operational efficiency and strategic effectiveness
    Yasin, Mahmoud M. ; Czuchry, Andrew J. ; et al.
    In: Journal of Engineering and Technology Management (JET-M), Jg. 16 (1999-06-01), Heft 2, S. 171-171
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A comprehensive study of stress induced leakage current using a floating gate structure for direct applications in EEPROM memories
    Pic, D. ; Goguenheim, D. ; et al.
    In: Microelectronics and Reliability, Jg. 47 (2007-09-01), Heft 9-11, S. 1373-1377
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Oxide reliability below 3nm for advanced CMOS: Issues, characterization, and solutions
    Goguenheim, D. ; Pic, D. ; et al.
    In: Microelectronics and Reliability, Jg. 47 (2007-09-01), Heft 9-11, S. 1322-1329
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A constructive approach to sequential Nash equilibria
    Vestergaard, Rene
    In: Information Processing Letters, Jg. 97 (2006-01-31), Heft 2, S. 46-51
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -