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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Effect of TID electronradiation on SiGe BiCMOS LNAs at V-band
    Stander, Tinus ; Flavien Sagouo Minko
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 112 (2020-09-01), S. 113750-113750
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    InAs/AlSb HEMTs for cryogenic LNAs at ultra-low power dissipation
    Roelens, Yannick ; Dambrine, Gilles ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 64 (2011-10-01), S. 47-53
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Investigation and application of vertical NPN devices for RF ESD protection in BiCMOS technology
    Wei Hao Fu ; Lin, Chun-Yu ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 83 (2018-04-01), S. 271-280
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Study of microwave damage effect on HEMT low noise amplifier under different drain voltage bias
    Yan, Tao ; Zhang, Yonghua ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 82 (2018-03-01), S. 228-234
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Ku band damage characteristics of GaAs pHEMT induced by a front-door coupling microwave pulse
    Fan, Qingyang ; Yu, Xinhai ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 66 (2016-11-01), S. 32-37
    Online unknown
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  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Design of high–order HTS dual–band bandpass filters with receiver subsystem for future mobile communication systems
    Sekiya, Naoto
    In: Physica C: Superconductivity and its Applications, Jg. 527 (2016-08-01), S. 91-97
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Damage effects on low noise amplifiers with microwave pulses
    Du, Guangxing ; Wang, Honggang ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 60 (2016-05-01), S. 41-47
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Effects of HPEM stress on GaAs low-noise amplifier from circuit to component scale
    Dubois, Tristan ; Hoffmann, Patrick ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, 2018-09-01, S. 914-919
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    A wideband UHF high-temperature superconducting filter system with a fractional bandwidth over 108%
    Li, Chunguang ; Huang, Haibo ; et al.
    In: Physica C: Superconductivity and its Applications, Jg. 550 (2018-07-01), S. 78-81
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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