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  1. DOMINGET, A ; FARKAS, J ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 83 (2006), Heft 11-12, S. 2355-2358
    Konferenz
  2. LEDUC, Patrick ; FARJOT, Thierry ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 83 (2006), Heft 11-12, S. 2072-2076
    Konferenz
  3. GOTTFRIED, K ; SCHUBERT, I ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 83 (2006), Heft 11-12, S. 2218-2224
    Konferenz
  4. CHOI, Gwon-Woo ; LEE, Kang-Yeon ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 83 (2006), Heft 11-12, S. 2213-2217
    Konferenz
  5. BALAKUMAR, S ; CHEN, X. T ; et al.
    In: Proceedings of the International Conference on Materials for Advanced Technologies (ICMAT 2003), Symposium L: Advances in Materials for Si Microelectronics-From Processing to Packaging, Jg. 462-63 (2004), S. 161-167
    Konferenz
  6. NGUYEN, Viet H ; DAAMEN, Roel ; et al.
    In: Materials for Advanced Metallization, MAM 2004. Proceedings of the European Workshop on Materials for Advanced Metallization 2004, Brussels, Belgium, March 7-10, Jg. 76 (2004), Heft 1-4, S. 95-99
    Konferenz
  7. KIM, Nam-Hoon ; KO, Pil-Ju ; et al.
    In: Proceedings of the International Conference on Materials for Advanced Technologies (ICMAT 2005) Symposium H: Silicon microelectronics: processing to packaging, Singapore, July 3-8, Jg. 504 (2006), Heft 1-2, S. 166-169
    Konferenz
  8. YEH, Ching-Fa ; HSIAO, Chih-Wen ; et al.
    In: ISCSI-4: Proceedings of the Fourth International Symposium on the Control of Semiconductor Interfaces, Karuizawa, Japan, October 21-25, 2002, Jg. 216 (2003), Heft 1-4, S. 46-53
    Konferenz
  9. KIM, Sang-Yong ; LEE, Kyoung-Jin ; et al.
    In: IUMRS-ICEM2002, Jg. 66 (2003), Heft 1-4, S. 463-471
    Konferenz
  10. PARKA, Sung-Woo ; KIM, Chul-Bok ; et al.
    In: IUMRS-ICEM2002, Jg. 66 (2003), Heft 1-4, S. 488-495
    Konferenz
  11. JEONG, So-Young ; KIM, Sang-Yong ; et al.
    In: IUMRS-ICEM2002, Jg. 66 (2003), Heft 1-4, S. 480-487
    Konferenz
  12. MIYOSHI, H ; SAITO, R ; et al.
    In: Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS XIII: Proceedings of the Thirteenth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry and Related Topics Nara-Ken New Public Hall, Jg. 203-04 (2003), S. 473-477
    Konferenz
  13. YULING, LIU ; KAILIANG, ZHANG ; et al.
    In: IUMRS-ICEM2002, Jg. 66 (2003), Heft 1-4, S. 433-437
    Konferenz
  14. WOLF, H ; STREITER, R ; et al.
    In: Proceedings of the ninth european workshop on materials for advanced metallization 2005, 6-9 March 2005, Dresden, Germany, Jg. 82 (2005), Heft 3-4, S. 686-694
    Konferenz
  15. EMLING, R ; SCHINDLER, G ; et al.
    In: Proceedings of the ninth european workshop on materials for advanced metallization 2005, 6-9 March 2005, Dresden, Germany, Jg. 82 (2005), Heft 3-4, S. 273-276
    Konferenz
  16. ZEFANG, ZHANG ; HONG, LEI
    In: Microelectronic engineering, Jg. 85 (2008), Heft 4, S. 714-720
    academicJournal
  17. LIN, Jeng-Yu ; WEST, Alan C ; et al.
    In: Electrochemistry communications, Jg. 10 (2008), Heft 5, S. 677-680
    academicJournal
  18. YI, Seol-Min ; SHIM, Cheonman ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 85 (2008), Heft 3, S. 621-624
    academicJournal
  19. SEO, Yong-Jin ; CHOI, Gwon-Woo ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 85 (2008), Heft 8, S. 1776-1780
    academicJournal
  20. HONG, LEI ; PENGZHEN, ZHANG
    In: Applied surface science, Jg. 253 (2007), Heft 21, S. 8754-8761
    academicJournal
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